مشخصات کتاب

Soft errors : from particles to circuits

ویرایش:  
نویسندگان: Jean-Luc Autran,  Daniela Munteanu  
سری: Devices, circuits, and systems 
ISBN (شابک) : 9781466590847, 146659084X 
ناشر: CRC Press 
سال نشر: 2015 
تعداد صفحات: 432 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 64 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Soft errors : from particles to circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب خطاهای نرم: از ذرات تا مدارها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب خطاهای نرم: از ذرات تا مدارها

این کتاب به خطاهای نرم در مدارهای مجتمع دیجیتالی می پردازد که در معرض محیط تابش طبیعی زمین قرار دارند. مکانیسم‌های فیزیکی در منشأ خطاهای نرم را توضیح می‌دهد و نحوه شناسایی، توصیف و شبیه‌سازی این پدیده‌ها را در مدارهای الکترونیکی توضیح می‌دهد.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book addresses soft errors in digital integrated circuits subjected to the terrestrial natural radiation environment. It details the physical mechanisms at the origin of soft errors and explains how to detect, characterize, and simulate these phenomena in electronic circuits.

فهرست مطالب

 Content: Chapter 1: Terrestrial Cosmic Rays and Atmospheric Radiation Background; Chapter 2: Detection and Characterization of Atmospheric Neutrons at Terrestrial Level: Neutron Monitors; Chapter 3: Natural Radioactivity of Electronic Materials; Chapter 4: Alpha-Radiation Metrology in Electronic Materials; Chapter 5: Particle Interactions with Matter and Mechanisms of Soft Errors in Semiconductor Circuits; Chapter 6: Accelerated Tests; Chapter 7: Real-Time (Life) Testing Chapter 8: Modeling and Simulation of Single-Event Effects in Devices and CircuitsChapter 9: Soft-Error Rate (SER) Monte Carlo Simulation Codes; Chapter 10: Scaling Effects and Their Implications for Soft Errors; Chapter 11: Natural Radiation in Nonvolatile Memories: A Case Study; Chapter 12: SOI, FinFET, and Emerging Devices.
 Abstract:             This book addresses soft errors in digital integrated circuits subjected to the terrestrial natural radiation environment. It details the physical mechanisms at the origin of soft errors and explains how to detect, characterize, and simulate these phenomena in electronic circuits

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Lower bounds on Arnold diffusion time via Mather theory

دانلود کتاب Freezing People Is (Not) Easy: My Adventures in Cryonics

دانلود کتاب The Thought & Culture of the English Renaissance: An Anthology of Tudor Prose 1481–1555. Volume Two

دانلود کتاب Ethnosoziologie

دانلود کتاب Reactivating Elements: Chemistry, Ecology, Practice