دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Silicon-Based Millimeter-wave Technology: Measurement, Modeling and Applications
دانلود کتاب فناوری موج میلی متر مبتنی بر سیلیکون: اندازه گیری ، مدل سازی و برنامه های کاربردی
مشخصات کتاب
Silicon-Based Millimeter-wave Technology: Measurement, Modeling and Applications
ویرایش: [1 ed.]
نویسندگان: M. Jamal Deen (Eds.)
سری: Advances in Imaging and Electron Physics 174
ISBN (شابک) : 9780123942982
ناشر: Academic Press
سال نشر: 2012
تعداد صفحات: 1-483
[509]
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 14 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 38,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Silicon-Based Millimeter-wave Technology: Measurement, Modeling and Applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب فناوری موج میلی متر مبتنی بر سیلیکون: اندازه گیری ، مدل سازی و برنامه های کاربردی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب فناوری موج میلی متر مبتنی بر سیلیکون: اندازه گیری ، مدل سازی و برنامه های کاربردی
پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکتروندو سریال طولانی
مدت را ادغام می کند--پیشرفت در الکترونیک و فیزیک الکترون
و پیشرفت در میکروسکوپ نوری و الکترونی.
این مجموعه شامل مقالات گسترده ای در مورد فیزیک دستگاه های الکترونی (به ویژه دستگاه های نیمه هادی)، اپتیک ذرات در انرژی های بالا و پایین، میکرولیتوگرافی، علم تصویر و پردازش تصویر دیجیتال، انتشار امواج الکترومغناطیسی، میکروسکوپ الکترونی، و روش های محاسباتی مورد استفاده در همه این دامنه ها
ویژگی‌های کلیدی:
این مجموعه شامل مقالات گسترده ای در مورد فیزیک دستگاه های الکترونی (به ویژه دستگاه های نیمه هادی)، اپتیک ذرات در انرژی های بالا و پایین، میکرولیتوگرافی، علم تصویر و پردازش تصویر دیجیتال، انتشار امواج الکترومغناطیسی، میکروسکوپ الکترونی، و روش های محاسباتی مورد استفاده در همه این دامنه ها
ویژگی‌های کلیدی:
* مشارکت‌های مقامات برجسته * اطلاع‌رسانی و به‌روزرسانی در مورد آخرین پیشرفت‌ها در این زمینه
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Advances in Imaging and Electron Physics merges two
long-running serials--Advances in Electronics and Electron
Physics and Advances in Optical and Electron
Microscopy.
This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
Key features:
This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
Key features:
* Contributions from leading authorities * Informs and updates on all the latest developments in the field
