ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Semiconductor Silicon Crystal Technology

دانلود کتاب فناوری کریستال سیلیکون نیمه هادی

Semiconductor Silicon Crystal Technology

مشخصات کتاب

Semiconductor Silicon Crystal Technology

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9780126400458, 0323150489 
ناشر: Elsevier Science 
سال نشر: 1989 
تعداد صفحات: 430 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 48,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 6


در صورت تبدیل فایل کتاب Semiconductor Silicon Crystal Technology به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب فناوری کریستال سیلیکون نیمه هادی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی



فهرست مطالب

Content: 
Dedication, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Preface, Pages vii-viii, FUMIO SHIMURA
Chapter 1 - Introduction, Pages 1-7, Fumio Shimura
Chapter 2 - Atomic Structure and Chemical Bonds, Pages 8-21, Fumio Shimura
Chapter 3 - Basic Crystallography, Pages 22-81, Fumio Shimura
Chapter 4 - Basic Semiconductor Physics, Pages 82-113, Fumio Shimura
Chapter 5 - Silicon Crystal Growth and Wafer Preparation, Pages 114-214, Fumio Shimura
Chapter 6 - Crystal Characterization, Pages 215-278, Fumio Shimura
Chapter 7 - Grown-In and Process-Induced Defects, Pages 279-377, Fumio Shimura
Chapter 8 - Silicon Wafer Criteria for VLSI/ULSI Technology, Pages 378-393, Fumio Shimura
Appendixes, Pages 395-406
Index, Pages 407-426




نظرات کاربران