مشخصات کتاب

Semiconductor Material and Device Characterization

ویرایش: 2 
نویسندگان: Dieter K. Schroder  
سری:  
ISBN (شابک) : 9780471241393, 0471241393 
ناشر: Wiley 
سال نشر: 1998 
تعداد صفحات: 783 
زبان: English  
فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Semiconductor Material and Device Characterization به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مشخصات نیمه هادی و مشخصات دستگاه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب مشخصات نیمه هادی و مشخصات دستگاه

ویژگی های مواد و دستگاه نیمه هادی تنها کتاب موجود در بازار است که به تکنیک های مشخصه سازی مورد استفاده در صنعت نیمه هادی مدرن برای اندازه گیری مواد و دستگاه های نیمه هادی متنوع اختصاص دارد. این طیف گسترده ای از روش های مشخصه الکتریکی و نوری را پوشش می دهد در حالی که به طور کامل تکنیک های شیمیایی و فیزیکی تخصصی تر را درمان می کند. این نسخه دوم به تازگی اصلاح شده و توسعه یافته، نوآوری های بسیاری را که در دهه گذشته بر این حوزه تسلط یافته اند، در خود جای داده است. از تکنیک‌های کاوشگر اسکن گرفته تا تشخیص ناخالصی‌های فلزی در ویفرهای سیلیکونی گرفته تا استفاده از انعکاس امواج مایکروویو برای اندازه‌گیری مقاومت بدون تماس، هر فصل ابزارها و تکنیک‌های پیشرفته‌ای را ارائه می‌کند، که بیشتر آنها در مراحل اولیه بودند یا هنوز استفاده نشده بودند. زمانی که نسخه قبلی برای اولین بار منتشر شد توسعه یافت. موارد برجسته در اینجا عبارتند از: * یک فصل کاملاً جدید در مورد قابلیت اطمینان و میکروسکوپ کاوشگر * مثال های متعدد و مشکلات پایان فصل - جدید در این نسخه * پانصد تصویر اصلاح شده برای این نسخه * کتابشناسی به روز شده با بیش از 1200 مرجع * استفاده آسان متنی شامل ترکیبی از واحدها در دنیای واقعی به جای واحدهای کاملاً MKS. این نسخه جدید کاربردی برای پذیرش کتاب‌های درسی در مقطع کارشناسی ارشد ایده‌آل است و قرار است به یک مرجع ضروری برای تیم‌های تحقیق و توسعه در صنعت نیمه‌رسانا تبدیل شود.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the characterization techniques used by the modern semiconductor industry to measure diverse semiconductor materials and devices. It covers the full range of electrical and optical characterization methods while thoroughly treating the more specialized chemical and physical techniques. This newly revamped and expanded Second Edition incorporates the many innovations that have come to dominate the field during the past decade. From scanning probe techniques to the detection of metallic impurities in silicon wafers to the use of microwave reflection to measure contactless resistivity, each chapter presents state-of-the-art tools and techniques, most of which were in their infancy or had not yet been developed when the previous edition first came out. Featured here are: * An entirely new chapter on reliability and probe microscopy * Numerous examples and end-of-chapter problems - new to this edition * Five hundred illustrations revised for this edition * Updated bibliography with over 1,200 references * Easy-to-use text including a real-world mix of units rather than strictly MKS units. This practical new edition is ideal for textbook adoptions at the graduate level and is destined to become an essential reference for research and development teams in the semiconductor industry.

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Ordinary Places Extraordinary Events: Citizenship, Democracy and Public Space in Latin America (Planning, History and Environment Series)

دانلود کتاب A Rhetoric of Style

دانلود کتاب Dynamical and Geometric Aspects of Hamilton-Jacobi and Linearized Monge-Ampère Equations: VIASM 2016

دانلود کتاب PRINCIPLES OF ADSORPTION CHROMATOGRAPHY

دانلود کتاب Literature for Our Times: Postcolonial Studies in the Twenty-First Century