دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Semiconductor Device Reliability
دانلود کتاب قابلیت اطمینان دستگاه نیمه هادی
مشخصات کتاب
Semiconductor Device Reliability
ویرایش: 1 نویسندگان: R. Goarin, J. P. Defars, M. Robinet, P. Durand, B. Bauduin (auth.), A. Christou, B. A. Unger (eds.) سری: NATO ASI Series 175 ISBN (شابک) : 9789401076203, 9789400924826 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 1989 تعداد صفحات: 570 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 27 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 32,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب قابلیت اطمینان دستگاه نیمه هادی: مهندسی برق، کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک
در صورت تبدیل فایل کتاب Semiconductor Device Reliability به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان دستگاه نیمه هادی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب قابلیت اطمینان دستگاه نیمه هادی
این نشریه تلفیقی از مقالات ارائه شده در کارگاه آموزشی Semiconductor Device Reliabi است که توسط برنامه تبادل علمی بین المللی ناتو حمایت می شود. این کارگاه از 4 ژوئن تا 9 ژوئن 1989 در کرت، یونان برگزار شد. هدف از این کارگاه بررسی و بررسی بیشتر پیشرفت ها در زمینه قابلیت اطمینان نیمه هادی ها از طریق ارائه ها و بحث های مقاله دعوت شده بود. تاکید فنی بر تضمین کیفیت و قابلیت اطمینان دستگاه های نیمه هادی نوری و پرسرعت بود. حمایت اولیه از این نشست توسط بخش امور علمی ناتو انجام شد. ما مدیون ناتو برای حمایت آنها و دکتر کریگ سینکلر هستیم که این برنامه را مدیریت می کند. فصول این کتاب از قالب و ترتیب جلسات جلسه پیروی می کند. در این کارگاه پنج روزه سی و شش مقاله ارائه و مورد بحث قرار گرفت. علاوه بر این، دو جلسه پانل با مشارکت مخاطبان برگزار شد که در آن موضوعات بحث برانگیز به خصوص مدل‌سازی و پیش‌بینی قابلیت اطمینان و روش‌های پیش‌بینی مورد بحث قرار گرفت. مروری کوتاه بر این جلسات در این کتاب ارائه شده است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This publication is a compilation of papers presented at the Semiconductor Device Reliabi lity Workshop sponsored by the NATO International Scientific Exchange Program. The Workshop was held in Crete, Greece from June 4 to June 9, 1989. The objective of the Workshop was to review and to further explore advances in the field of semiconductor reliability through invited paper presentations and discussions. The technical emphasis was on quality assurance and reliability of optoelectronic and high speed semiconductor devices. The primary support for the meeting was provided by the Scientific Affairs Division of NATO. We are indebted to NATO for their support and to Dr. Craig Sinclair, who admin isters this program. The chapters of this book follow the format and order of the sessions of the meeting. Thirty-six papers were presented and discussed during the five-day Workshop. In addi tion, two panel sessions were held, with audience participation, where the particularly controversial topics of bum-in and reliability modeling and prediction methods were dis cussed. A brief review of these sessions is presented in this book.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages i-ix
The Influence of Temperature and Use Conditions on the Degradation of Led Parameters....Pages 1-28
An Historical Perspective of GaAs Mesfet Reliability Work at Plessey....Pages 29-42
Screening and burn-in: application to optoelectronic device selection for high-reliability S 280 optical submarine repeaters....Pages 43-73
Assuring the Reliability of Lasers Intended for the Uncontrolled Environment....Pages 75-96
Component Burn-In: The Changing Attitude....Pages 97-106
Statistical Models for Device Reliability; An Overview....Pages 107-125
Computer-Aided Analysis of Integrated Circuit Reliability....Pages 127-136
Reliability Assessment of Cmos Asic Designs....Pages 137-146
Models Used in Undersea Fibre Optic Systems Reliability Prediction....Pages 147-160
Failure Analysis: The Challenge....Pages 161-175
Gate Metallisation Systems for High Reliability GaAs MESFET Transistors....Pages 177-196
Reliability Limitations of Metal Electrodes on GaAs....Pages 197-210
Failure Mechanisms of GaAs MESFETs and Low-Noise HEMTs....Pages 211-267
Metal Contact Degradation on III–V Compound Semiconductors....Pages 269-289
Nuclear Methods in the Characterization of Semiconductor Reliability....Pages 291-300
A Review of the Reliability of III–V Opto-electronic Components....Pages 301-319
Considerations on the Degradation of DFB Lasers....Pages 321-328
InP-Based 4 × 4 Optical Switch Package Qualification and Reliability....Pages 329-342
Modelling the Effects of Degradation on the Spectral Stability of Distributed Feedback Lasers....Pages 343-352
Optoelectronic Component Reliability and Failure Analysis....Pages 353-362
Temperature Cycling Tests o Laser Modules....Pages 363-378
An Experimental and Theoretical Investigation of Degradation in Semiconductor Lasers Resulting from Electrostatic Discharge....Pages 379-411
Reliability Testing of Planar InGaAs Avalanche Photodiodes....Pages 413-421
Status of Compound Semiconductor Device Reliability....Pages 423-437
Investigation into Molecular Beam Epitaxy-Grown FETs and HEMTs....Pages 439-453
Reliability of GaAs MESFETs....Pages 455-469
Hydrogen Effects on Reliability of GaAs MMICs....Pages 471-477
Temperature Distribution on GaAs MESFETs: Thermal Modeling and Experimental Results....Pages 479-489
High Speed IC Reliability : Concerns and Advances....Pages 491-506
Reliability of Short Channel Silicon and SOI VLSI Devices and Circuits....Pages 507-516
Special Reliability Issues and Radiation Effects of High Speed I.C. s....Pages 517-544
Reliability of High Speed HEMT Integrated Circuits and Multi-2DEG Structures....Pages 545-556
AlGaAs as a Dielectric on GaAs for Digital I.C.’s: Problems and Solutions....Pages 557-568
Back Matter....Pages 569-575
