ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices

دانلود کتاب اسپکترومتر جرم یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و عملکردها

Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices

مشخصات کتاب

Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices

دسته بندی: شیمی تجزیه
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 1118480481, 9781118480489 
ناشر: Wiley 
سال نشر: 2014 
تعداد صفحات: 386 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 4 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 86,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب اسپکترومتر جرم یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و عملکردها: شیمی و صنایع شیمیایی، شیمی تجزیه، روش های فیزیکی تجزیه و تحلیل، کروماتوگرافی و طیف سنجی جرمی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 6


در صورت تبدیل فایل کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اسپکترومتر جرم یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و عملکردها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب اسپکترومتر جرم یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و عملکردها

به عنوان یک مرجع عملی برای کسانی که در طیف سنجی جرمی یونی ثانویه (SIMS) درگیر هستند عمل می کند
•  SIMS را همراه با زمینه های بسیار متنوع (شیمی، فیزیک، زمین شناسی و زیست شناسی) به آن معرفی می کند که با استفاده از تصاویر به روز اعمال می شود
• اصول پذیرفته شده و مدل‌های مرتبط مرتبط با کندوپاش عنصری و مولکولی و انتشار یون را معرفی می‌کند
• تئوری و حالت‌های عملکرد ابزار دقیق مورد استفاده در اشکال مختلف SIMS را پوشش می‌دهد (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS)< br />• جزئیات نحوه جمع‌آوری/پردازش داده‌ها را می‌توان انجام داد، با تاکید بر نحوه شناسایی و اجتناب از تحریف‌های ناشی از تجزیه و تحلیل معمولاً رخ می‌دهد
• ارائه شده تا حد امکان به طور خلاصه با همه بخش‌ها به گونه‌ای که بتوان آن‌ها را شناسایی کرد. مستقل از هم بخوانند


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Serves as a practical reference for those involved in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
• Introduces SIMS along with the highly diverse fields (Chemistry, Physics, Geology and Biology) to it is applied using up to date illustrations
• Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission
• Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS)
• Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions
• Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد