دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization
دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح
مشخصات کتاب
Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization
ویرایش:
نویسندگان: Fred Stevie
سری: Materials characterization and analysis collection
ISBN (شابک) : 1606505882, 9781606505892
ناشر: Momentum Press
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 290
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 44 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 38,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح: طیف سنجی جرمی یون ثانویه، علم مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح
این کتاب برای توضیح تکنیکی نوشته شده است که نیازمند درک بسیاری از جزئیات برای به دست آوردن و تفسیر صحیح داده های به دست آمده است. همچنین به عنوان یک مرجع برای کسانی که نیاز به ارائه داده های SIMS دارند عمل می کند. این کتاب دارای بیش از 200 شکل است و منابع به شما امکان می دهد توسعه SIMS را ردیابی کنید و جزئیات بسیاری از این تکنیک را درک کنید.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique
