دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: S. V. Kalinin, A. Gruverman (auth.), Sergei Kalinin, Alexei Gruverman (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9780387286679, 9780387286686 ناشر: Springer-Verlag New York سال نشر: 2007 تعداد صفحات: 1001 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 39 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ کاوشگر روبشی: پدیده های الکتریکی و الکترومکانیکی در مقیاس نانو: خصوصیات و ارزیابی مواد، نانوتکنولوژی، سطوح و سطوح، لایه های نازک، میکروسکوپ بیولوژیکی، مهندسی مکانیک، فیزیک حالت جامد و طیف سنجی
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ کاوشگر روبشی: پدیده های الکتریکی و الکترومکانیکی در مقیاس نانو نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروسکوپ کاوشگر روبشی پایگاه دانش دائماً رو به رشدی از خصوصیات الکتریکی و الکترومکانیکی در مقیاس نانو را بهروز میکند. این مجموعه جامع و دو جلدی مسائل عملی و نظری تکنیکهای میکروسکوپ کاوشگر روبشی پیشرفته (SPM) را ارائه میکند که از مطالعات فیزیکی بنیادی گرفته تا مشخصات دستگاه، تجزیه و تحلیل شکست و نانوساخت را شامل میشود. جلد 1 بر جنبههای فنی روشهای SPM از پتانسیومتری تونل زنی اسکن تا SPM الکتروشیمیایی تمرکز دارد و به پدیدههای فیزیکی اساسی زیربنای مکانیسم تصویربرداری SPM میپردازد. جلد 2 بر جنبه های عملی خصوصیات SPM طیف گسترده ای از مواد، از جمله نیمه هادی ها، فروالکتریک ها، دی الکتریک ها، پلیمرها، نانولوله های کربنی، و زیست مولکول ها، و همچنین بر روی رویکردهای مبتنی بر SPM به نانوساخت و نانو سنگی تمرکز دارد.
Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.
Front Matter....Pages i-xx
Introduction....Pages 1-8
Front Matter....Pages 9-9
Scanning Tunneling Potentiometry: The Power of STM applied to Electrical Transport....Pages 11-30
Probing Semiconductor Technology and Devices with Scanning Spreading Resistance Microscopy....Pages 31-87
Scanning Capacitance Microscopy for Electrical Characterization of Semiconductors and Dielectrics....Pages 88-112
Principles of Kelvin Probe Force Microscopy....Pages 113-131
Frequency-Dependent Transport Imaging by Scanning Probe Microscopy....Pages 132-172
Review of Ferroelectric Domain Imaging by Piezoresponse Force Microscopy....Pages 173-214
Principles of Near-Field Microwave Microscopy....Pages 215-253
Electromagnetic Singularities and Resonances in Near-Field Optical Probes....Pages 254-279
Electrochemical SPM....Pages 280-314
Near-Field High-Frequency Probing....Pages 315-345
Front Matter....Pages 347-347
Scanning Probe Microscopy on Low-Dimensional Electron Systems in III–V Semiconductors....Pages 349-371
Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy....Pages 372-394
Scanning Probe Measurements of Electron Transport in Molecules....Pages 395-422
Scanning Probe Microscopy of Individual Carbon Nanotube Quantum Devices....Pages 423-439
Conductance AFM Measurements of Transport Through Nanotubes and Nanotube Networks....Pages 440-454
Theory of Scanning Probe Microscopy....Pages 455-479
Multi-Probe Scanning Tunneling Microscopy....Pages 480-505
Dynamic Force Microscopy and Spectroscopy in Vacuum....Pages 506-533
Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy of Manganites....Pages 534-558
Front Matter....Pages 559-559
Scanning Voltage Microscopy....Pages 561-600
Electrical Scanning Probe Microscopy of Biomolecules on Surfaces and at Interfaces....Pages 601-614
Electromechanical Behavior in Biological Systems at the Nanoscale....Pages 615-633
Scanning Capacitance Microscopy....Pages 634-662
Kelvin Probe Force Microscopy of Semiconductors....Pages 663-689
Nanoscale Characterization of Electronic and Electrical Properties of III-Nitrides by Scanning Probe Microscopy....Pages 690-714
Electron Flow Through Molecular Structures....Pages 715-745
Electrical Characterization of Perovskite Nanostructures by SPM....Pages 746-775
SPM Measurements of Electric Properties of Organic Molecules....Pages 776-787
High-Sensitivity Electric Force Microscopy of Organic Electronic Materials and Devices....Pages 788-830
Front Matter....Pages 831-831
Electrical SPM-Based Nanofabrication Techniques....Pages 833-857
Fundamental Science and Lithographic Applications of Scanning Probe Oxidation....Pages 858-879
UHV-STM Nanofabrication on Silicon....Pages 880-905
Ferroelectric Lithography....Pages 906-928
Patterned Self-Assembled Monolayers via Scanning Probe Lithography....Pages 929-942
Resistive Probe Storage: Read/Write Mechanism....Pages 943-973
Back Matter....Pages 974-980