ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

دانلود کتاب میکروسکوپ پروب اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانها

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

مشخصات کتاب

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

دسته بندی: فن آوری
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: NanoScience and Technology 
ISBN (شابک) : 9780387400907, 0387400907 
ناشر: Springer 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 291 
زبان: English 
فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 4 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 41,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ پروب اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ پروب اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانها



میکروسکوپ کاوشگر روبشی یک منبع اطلاعاتی جامع برای محققان، معلمان و دانشجویان فارغ التحصیل در مورد زمینه به سرعت در حال گسترش نظریه کاوشگر روبشی است. نویسندگان با نوشتن به سبک آموزشی، نظریه پشت تکنیک‌های شبیه‌سازی امروزی را از ابتدا توضیح می‌دهند و نمونه‌هایی از مفاهیم نظری را از طریق شبیه‌سازی‌های پیشرفته، از جمله ابزار مقایسه این نتایج با داده‌های تجربی ارائه می‌کنند. این کتاب اولین چارچوب جامع برای نظریه انتقال الکترون را با درجات مختلف تقریب آن ارائه می‌کند، بنابراین بینش گسترده‌ای را در مورد فیزیک کاوشگرهای روبشی فراهم می‌کند. تجربی‌شناسان چگونگی تأثیر خواص مواد بر عملکرد ابزار را درک خواهند کرد و نظریه‌پردازان متوجه خواهند شد که چگونه شبیه‌سازی‌ها را می‌توان مستقیماً با داده‌های تجربی مقایسه کرد.

ویژگی‌های کلیدی


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today’s simulation techniques and give examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the materials properties influence the instrument's operation, and theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.

Key Features





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی