ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

دانلود کتاب میکروسکوپ کاوشگر اسکن: میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل روبشی

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

مشخصات کتاب

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

دسته بندی: فیزیک
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: NanoScience and Technology 
ISBN (شابک) : 9783662452394, 9783662452400 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2015 
تعداد صفحات: 375 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 14 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 37,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ کاوشگر اسکن: میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل روبشی: نانوتکنولوژی، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، فیزیک ماده متراکم



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ کاوشگر اسکن: میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل روبشی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ کاوشگر اسکن: میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل روبشی



این کتاب اصول عملکرد میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ تونلی روبشی را توضیح می‌دهد. هدف این کتاب این است که خواننده را قادر سازد تا یک میکروسکوپ کاوشگر روبشی را با موفقیت کار کند و داده های به دست آمده با میکروسکوپ را درک کند. فصل‌های مربوط به تکنیک‌های کاوشگر اسکن با فصل‌هایی درباره اصول و جنبه‌های فنی مهم تکمیل می‌شوند. هدف اصلی این کتاب درسی دانشجویان فارغ التحصیل رشته های فیزیک، علم مواد، شیمی، علوم نانو و مهندسی و همچنین محققانی است که تازه وارد این رشته شده اند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xv
Introduction....Pages 1-11
Front Matter....Pages 13-13
Harmonic Oscillator....Pages 15-29
Technical Aspects of Scanning Probe Microscopy....Pages 31-63
Scanning Probe Microscopy Designs....Pages 65-76
Electronics for Scanning Probe Microscopy....Pages 77-99
Lock-In Technique....Pages 101-105
Data Representation and Image Processing....Pages 107-114
Artifacts in SPM....Pages 115-121
Work Function, Contact Potential, and Kelvin Probe Scanning Force Microscopy....Pages 123-133
Surface States....Pages 135-141
Front Matter....Pages 143-143
Forces Between Tip and Sample....Pages 145-155
Technical Aspects of Atomic Force Microscopy (AFM)....Pages 157-175
Static Atomic Force Microscopy....Pages 177-186
Amplitude Modulation (AM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy....Pages 187-204
Intermittent Contact Mode/Tapping Mode....Pages 205-221
Mapping of Mechanical Properties Using Force-Distance Curves....Pages 223-227
Frequency Modulation (FM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy—Non-contact Atomic Force Microscopy....Pages 229-253
Noise in Atomic Force Microscopy....Pages 255-267
Quartz Sensors in Atomic Force Microscopy....Pages 269-275
Front Matter....Pages 277-277
Scanning Tunneling Microscopy....Pages 279-308
Front Matter....Pages 277-277
Scanning Tunneling Spectroscopy (STS)....Pages 309-334
Vibrational Spectroscopy with the STM....Pages 335-340
Spectroscopy and Imaging of Surface States....Pages 341-347
Building Nanostructures Atom by Atom....Pages 349-357
Back Matter....Pages 359-382




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی