Röntgen-Pulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung

امروزه در بسیاری از آزمایشگاه ها از پراش اشعه ایکس برای شناسایی سریع، قابل اعتماد و غیر مخرب نمونه های جامد استفاده می شود. استفاده از رایانه‌های کوچک (PC) و آشکارسازهای سریع‌تر منجر به تجدید حیات در پراش سنجی پودر اشعه ایکس، هم در تجزیه و تحلیل فاز مخلوط‌ها و هم در اصلاح ساختار از داده‌های پودر شده است. این کتاب حاصل چندین سخنرانی و تمرین نویسنده است و به عنوان یک کتاب درسی کاربردی با تصاویر متعدد برای دانشجویان کریستالوگرافی، کانی شناسی، زمین شناسی، شیمی و علم مواد است. همچنین توسط هر دانشمندی که از این روش استفاده می کند به عنوان کتاب مرجع استفاده می شود. این چاپ دوم کتاب است. در مقایسه با نسخه اول، روش Rietveld و روش جدید برازش پروفیل با استفاده از پارامترهای بنیادی معنادار فیزیکی با جزئیات بیشتری بررسی شده است.

Die Beugung von Röntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern (PCs) und von schnelleren Detektoren hat in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten geführt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und Übungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird außerdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegenüber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausführlicher behandelt.