دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
دانلود کتاب پیش بینی قابلیت اطمینان از متناسب با داده های رایت شده به مدل های قابلیت اطمینان
مشخصات کتاب
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
ویرایش: 1
نویسندگان: Joseph Bernstein (Auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780128007471
ناشر: Academic Press
سال نشر: 2014
تعداد صفحات: 102
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 2 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 60,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیش بینی قابلیت اطمینان از متناسب با داده های رایت شده به مدل های قابلیت اطمینان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب پیش بینی قابلیت اطمینان از متناسب با داده های رایت شده به مدل های قابلیت اطمینان
این کار به طراحان تراشه و سیستم در مورد روشی برای پیشبینی
دقیق قابلیت اطمینان مدار و سیستم به منظور تخمین خرابیهایی که
در این زمینه به عنوان تابعی از شرایط عملیاتی در سطح تراشه رخ
میدهد، آموزش میدهد. این کتاب دانش آموزش داده شده در بسیاری از
نشریات قابلیت اطمینان را ترکیب می کند و نحوه استفاده از دانش
ارائه شده توسط شرکت های تولید کننده نیمه هادی را در ترکیب با
آزمایش پایان عمر HTOL که در حال حاضر توسط تامین کنندگان تراشه
به عنوان بخشی از روش استاندارد صلاحیت آنها انجام می شود، نشان
می دهد. و پیش بینی های دقیق قابلیت اطمینان را انجام دهید. این
کتاب به طراحان تراشه اجازه می دهد تا مقادیر FIT و DPPM را به
عنوان تابعی از شرایط عملیاتی و دمای تراشه پیش بینی کنند تا
کاربران در نهایت قابلیت اطمینان را در طراحی خود کنترل کنند تا
قابلیت اطمینان و عملکرد همزمان با طراحی آنها در نظر گرفته
شود.
. توانایی گنجاندن محاسبات قابلیت اطمینان و نتایج آزمایش در
طراحی محصول آنها
. توانایی استفاده از دادههای قابلیت اطمینان ارائهشده توسط
تأمینکنندگان برای پیشبینی قابلیت اطمینان معنادار
. برای محاسبه هزینه های تعویض دوره گارانتی، محاسبات دقیق میزان
خرابی داشته باشید
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This work will educate chip and system designers on a method
for accurately predicting circuit and system reliability in
order to estimate failures that will occur in the field as a
function of operating conditions at the chip level. This book
will combine the knowledge taught in many reliability
publications and illustrate how to use the knowledge presented
by the semiconductor manufacturing companies in combination
with the HTOL end-of-life testing that is currently performed
by the chip suppliers as part of their standard qualification
procedure and make accurate reliability predictions. This book
will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a
function of operating conditions and chip temperature so that
users ultimately will have control of reliability in their
design so the reliability and performance will be considered
concurrently with their design.
. The ability
to include reliability calculations and test results in their
product design
. The ability
to use reliability data provided to them by their suppliers to
make meaningful reliability predictions
. Have accurate
failure rate calculations for calculating warrantee period
replacement costs
فهرست مطالب
Content:
Front-matter, Pages i,iii
Copyright, Page iv
Dedication, Page v
Introduction, Pages ix-x
Chapter 1 - Shortcut to Accurate Reliability Prediction, Pages 1-14
Chapter 2 - M-HTOL Principles, Pages 15-30
Chapter 3 - Failure Mechanisms, Pages 31-48
Chapter 4 - New M-HTOL Approach, Pages 49-91
Bibliography, Pages 93-97
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Internationale Steuerlehre: Steuerplanung bei grenzüberschreitenden Transaktionen
دانلود کتاب Electroplating
دانلود کتاب Radiation Protection in the Health Sciences: With Problem Solutions Manual
