دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 3rd ed.
نویسندگان: J. W. McPherson
سری:
ISBN (شابک) : 9783319936826, 9783319936833
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: 469
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 18 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب فیزیک و مهندسی قابلیت اطمینان: مدلسازی زمان تا شکست: مهندسی، مدارها و سیستم ها، مدارها و دستگاه های الکترونیکی، کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک
در صورت تبدیل فایل کتاب Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب فیزیک و مهندسی قابلیت اطمینان: مدلسازی زمان تا شکست نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب درسی ویرایش سوم اصول اولیه فیزیک و مهندسی قابلیت اطمینان را ارائه میکند که برای مهندسین برق، مهندسین مکانیک، مهندسین عمران، مهندسان زیست پزشکی، دانشمندان مواد و فیزیکدانان کاربردی برای کمک به آنها برای ساختن دستگاهها/محصولات بهتر مورد نیاز است. اطلاعات موجود در داخل باید به همه زمینههای مهندسی کمک کند تا روشهای بهتری برای: طراحی محصول قابل اعتمادتر، انتخاب مواد قابل اطمینانتر و فرآیندهای تولید قابل اعتمادتر ایجاد کنند - که همه اینها باید به بهبود قابلیت اطمینان محصول کمک کنند. یک سطح ریاضی از طریق معادلات دیفرانسیل مورد نیاز است. همچنین، آشنایی با استفاده از صفحات گسترده اکسل فرض شده است. هر گونه آموزش آماری و ابزار مورد نیاز در متن موجود است. در حالی که خرابی دستگاه یک فرآیند آماری است (بنابراین آمار مهم است)، تأکید این کتاب به وضوح بر فیزیک خرابی و توسعه ابزارهای مهندسی قابلیت اطمینان مورد نیاز برای بهبود محصول در مراحل طراحی دستگاه و ساخت دستگاه است.
This third edition textbook provides the basics of reliability physics and engineering that are needed by electrical engineers, mechanical engineers, civil engineers, biomedical engineers, materials scientists, and applied physicists to help them to build better devices/products. The information contained within should help all fields of engineering to develop better methodologies for: more reliable product designs, more reliable materials selections, and more reliable manufacturing processes— all of which should help to improve product reliability. A mathematics level through differential equations is needed. Also, a familiarity with the use of excel spreadsheets is assumed. Any needed statistical training and tools are contained within the text. While device failure is a statistical process (thus making statistics important), the emphasis of this book is clearly on the physics of failure and developing the reliability engineering tools required for product improvements during device-design and device-fabrication phases.
Front Matter ....Pages i-xvii
Introduction (J. W. McPherson)....Pages 1-3
Physics of Degradation (J. W. McPherson)....Pages 5-31
Time-Dependence of Materials and Device Degradation (J. W. McPherson)....Pages 33-58
From Material/Device Degradation to Time-to-Failure (J. W. McPherson)....Pages 59-66
Time-to-Failure Modeling (J. W. McPherson)....Pages 67-80
Gaussian Statistics: An Overview (J. W. McPherson)....Pages 81-91
Time-to-Failure Statistics (J. W. McPherson)....Pages 93-107
Failure Rate Modeling (J. W. McPherson)....Pages 109-124
Accelerated Degradation (J. W. McPherson)....Pages 125-136
Acceleration Factor Modeling (J. W. McPherson)....Pages 137-147
Ramp-to-Failure Testing (J. W. McPherson)....Pages 149-164
Time-to-Failure Models for Selected Failure Mechanisms in Integrated Circuits (J. W. McPherson)....Pages 165-225
Time-to-Failure Models for Selected Failure Mechanisms in Mechanical Engineering (J. W. McPherson)....Pages 227-304
Conversion of Dynamical Stresses into Effective Static Values (J. W. McPherson)....Pages 305-329
Resonance and Resonance-Induced Degradation (J. W. McPherson)....Pages 331-352
Increasing the Reliability of Device/Product Designs (J. W. McPherson)....Pages 353-364
Screening (J. W. McPherson)....Pages 365-380
Heat Generation and Dissipation (J. W. McPherson)....Pages 381-417
Sampling Plans and Confidence Intervals (J. W. McPherson)....Pages 419-441
Back Matter ....Pages 443-463