ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing

دانلود کتاب سوابق کارگاه بین المللی IEEE در سال 2000 در زمینه فناوری حافظه، طراحی و آزمایش

Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing

مشخصات کتاب

Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0769506917, 9780769506913 
ناشر: IEEE Computer Society 
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 128 
زبان: English  
فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 86,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب سوابق کارگاه بین المللی IEEE در سال 2000 در زمینه فناوری حافظه، طراحی و آزمایش نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب سوابق کارگاه بین المللی IEEE در سال 2000 در زمینه فناوری حافظه، طراحی و آزمایش

نوزده مقاله و یک سخنرانی اصلی شامل مجموعه مقالات این کارگاه آموزشی آگوست 2000 است. مقالات در بخش‌هایی در مورد مکانیسم‌ها و نقص‌ها، طراحی فلش و EEPROM، ایده‌های جدید، تست و بازده، تست حافظه و خودآزمایی داخلی، طراحی حافظه و تشخیص سازمان‌دهی شده‌اند. تاپ خاص


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Nineteen papers and a keynote address comprise the proceedings of this August 2000 workshop. The papers are organized into sections on failure mechanisms and defects, flash and EEPROM design, new ideas, test and yield, memory testing and built-in self-test, memory design, and diagnosis. Specific top





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد