ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Radiation Effects in Semiconductors (Devices, Circuits, and Systems)

دانلود کتاب اثرات تشعشع در نیمه هادی ها (دستگاه ها، مدارها و سیستم ها)

Radiation Effects in Semiconductors (Devices, Circuits, and Systems)

مشخصات کتاب

Radiation Effects in Semiconductors (Devices, Circuits, and Systems)

دسته بندی: فیزیک حالت جامد
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 1439826943, 9781439826942 
ناشر: CRC Press 
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 422 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 33,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب اثرات تشعشع در نیمه هادی ها (دستگاه ها، مدارها و سیستم ها): فیزیک، فیزیک حالت جامد، فیزیک نیمه هادی ها



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 10


در صورت تبدیل فایل کتاب Radiation Effects in Semiconductors (Devices, Circuits, and Systems) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اثرات تشعشع در نیمه هادی ها (دستگاه ها، مدارها و سیستم ها) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب اثرات تشعشع در نیمه هادی ها (دستگاه ها، مدارها و سیستم ها)

کاربردهای فضایی، فیزیک هسته ای، عملیات نظامی، تصویربرداری پزشکی، و به ویژه الکترونیک (پردازش سیلیکون مدرن) زمینه های آشکاری هستند که در آنها آسیب تشعشع می تواند عواقب جدی داشته باشد، به عنوان مثال، تخریب دستگاه ها و مدارهای MOS. با توجه به جنبه های حیاتی این موضوع گسترده و پیچیده، اثرات تشعشع در نیمه هادی ها به نیاز روزافزون برای درک واضح اثرات تشعشع بر روی دستگاه ها و مدارهای نیمه هادی برای مقابله با آسیب های احتمالی می پردازد. دارای فصلی است که توسط مرجع مشهور تشعشعات لارنس تی کلارک در مورد تابش سخت شده توسط طراحی استراتژی های SRAM برای کاهش TID و SEE تألیف شده است. و سیستم ها زمانی که تحت تابش قرار می گیرند. این بررسی می‌کند که چگونه تشعشع با مواد جامد برهم‌کنش می‌کند، و تجزیه و تحلیل دقیقی از سه روش ارائه می‌دهد: اثر فوتوالکتریک، اثر کامپتون، و ایجاد جفت الکترون-پوزیترون. نویسنده توضیح می دهد که احتمال وقوع این سه اثر بستگی به انرژی فوتون فرودی و عدد اتمی هدف دارد. این کتاب همچنین اثراتی را که فوتون‌ها می‌توانند روی ماده داشته باشند مورد بحث قرار می‌دهد - از نظر اثرات یونیزاسیون و جابجایی هسته‌ای که برای محققان پس از فارغ‌التحصیلی، مهندسان نیمه‌رسانا، و مهندسان هسته‌ای و فضا با پیشینه الکترونیکی نوشته شده است، این مرجع با دقت ساخته شده چگونگی تشعشعات یونیزان را توضیح می‌دهد. ایجاد آسیب در دستگاه‌ها و مدارها و سیستم‌های نیمه‌رسانا - و اینکه چگونه می‌توان از این آسیب در زمینه‌هایی مانند مأموریت‌های نظامی/فضایی، کاربردهای هسته‌ای، آسیب‌های پلاسما و تکنیک‌های مبتنی بر اشعه ایکس جلوگیری کرد. این دارای کارشناسان بین المللی درجه یک در صنعت و دانشگاه است که به فناوری های آشکارساز در حال ظهور، تکنیک های طراحی مدار، مواد جدید و رویکردهای سیستمی نوآورانه می پردازند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Space applications, nuclear physics, military operations, medical imaging, and especially electronics (modern silicon processing) are obvious fields in which radiation damage can have serious consequences, i.e., degradation of MOS devices and circuits. Zeroing in on vital aspects of this broad and complex topic, Radiation Effects in Semiconductors addresses the ever-growing need for a clear understanding of radiation effects on semiconductor devices and circuits to combat potential damage it can cause. Features a chapter authored by renowned radiation authority Lawrence T. Clark on Radiation Hardened by Design SRAM Strategies for TID and SEE Mitigation This book analyzes the radiation problem, focusing on the most important aspects required for comprehending the degrading effects observed in semiconductor devices, circuits, and systems when they are irradiated. It explores how radiation interacts with solid materials, providing a detailed analysis of three ways this occurs: Photoelectric effect, Compton effect, and creation of electron-positron pairs. The author explains that the probability of these three effects occurring depends on the energy of the incident photon and the atomic number of the target. The book also discusses the effects that photons can have on matter—in terms of ionization effects and nuclear displacement Written for post-graduate researchers, semiconductor engineers, and nuclear and space engineers with some electronics background, this carefully constructed reference explains how ionizing radiation is creating damage in semiconducting devices and circuits and systems—and how that damage can be avoided in areas such as military/space missions, nuclear applications, plasma damage, and X-ray-based techniques. It features top-notch international experts in industry and academia who address emerging detector technologies, circuit design techniques, new materials, and innovative system approaches.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی