دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
دانلود کتاب تعیین کمی بازده یون ثانویه فلزات پوشش داده شده با اکسیژن
مشخصات کتاب
Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
ویرایش: 1 نویسندگان: Prof. Dr. Alfred Benninghoven, Dr. Lothar Wiedmann (auth.) سری: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 2784 ISBN (شابک) : 9783531027845, 9783322881267 ناشر: VS Verlag für Sozialwissenschaften سال نشر: 1978 تعداد صفحات: 48 زبان: German فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 1 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 51,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تعیین کمی بازده یون ثانویه فلزات پوشش داده شده با اکسیژن: علم، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تعیین کمی بازده یون ثانویه فلزات پوشش داده شده با اکسیژن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تعیین کمی بازده یون ثانویه فلزات پوشش داده شده با اکسیژن
خواص فیزیکی و شیمیایی یک سطح جامد با ترکیب آن در بالاترین لایه های اتمی تعیین می شود. دانستن ترکیب شیمیایی سطح جامد تا آنجا که ممکن است پیش نیازی برای درک بسیاری از زمینه‌های مهم فنی مانند به عنوان مثال است. B. فن آوری کاتالیز، خوردگی و لایه نازک. بنابراین یک روش تجزیه و تحلیل سطحی که اطلاعات جامعی در مورد این خواص ارائه می دهد باید شرایط زیر را برآورده کند: 1. قابلیت کاربرد برای هر نمونه 2. عمق اطلاعات در محدوده یک تک لایه 3. تشخیص عناصر و ترکیبات 4. جداسازی ایزوتوپ ها 5. زیاد حساسیت 6. قدرت تفکیک بالا 7. عدم تبعیض از اجزای خاص 8. فرآیند آنالیز به خودی خود بر سطح تأثیر نمی گذارد هیچ روشی برای تجزیه و تحلیل سطح نمی تواند همه این الزامات را برآورده کند. در مقایسه با روش های دیگر مانند ب. طیف سنجی الکترونی اوگر (AES) (1)، طیف سنجی فوتوالکترون (ESCA) (2.3) یا پراکندگی پس یونی (ISS) (4)، با این حال، طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) (5-8) دارد. مزایای زیر: 1. تشخیص مستقیم ترکیبات شیمیایی، 2. تشخیص هیدروژن و ترکیبات آن، 3. جداسازی ایزوتوپ ها، 4. حساسیت بالا به بسیاری از عناصر و ترکیبات. بنابراین روش SIMS به ویژه برای بررسی لایه های سطحی تک مولکولی و واکنش های سطحی و همچنین برای تجزیه و تحلیل ردیابی مناسب است. با این حال، یک نقطه ضعف مهم روش - 2 - حساسیت تشخیص متفاوت برای عناصر و ترکیبات جداگانه بر اساس مرتبه های بزرگی است که همچنین نه تنها به عنصر یا ترکیب مورد نظر، بلکه به محیط آن، "ماتریس" نیز بستگی دارد. .
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest körperoberfläche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine möglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkörperoberfläche ist Voraussetzung für das Verständnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dünnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflächenanalyse, das eine um fassende Information über diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfüllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflösungsvermögen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberfläche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflächenanalyse kann alle diese Forderunger erfüllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2,3) oder der Ionenrückstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit für viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflächenschichten und Oberflächenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die für die einzelnen Elemente und Verbindungen um Größenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix", abhängt.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages i-iii
Einleitung....Pages 1-2
Grundlagen der Sekundärionenemission....Pages 2-3
Die statische Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie....Pages 3-5
Apparatur....Pages 5-7
Die chemische Sekundärionenemission von Anionenkomplexen....Pages 7-8
Abtragung monomolekularer und mehrere Monolagen dicker Schichten durch Ionenbeschuß....Pages 8-9
Die Oxidation von Metallen im Monolagenbereich....Pages 10-14
Das Wertigkeitsmodell....Pages 14-17
Anwendung des Wertigkeitsmodells auf Sauerstoffexposition und Ionenbeschußdesorption (“dynamisches Wertigkeitsmodell”)....Pages 17-20
Die Grenzen der Anwendbarkeit des Wertigkeitsmodells....Pages 21-23
Back Matter....Pages 24-45
