دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Progress in Materials Analysis: Vol. 2
دانلود کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل مواد: جلد. 2
مشخصات کتاب
Progress in Materials Analysis: Vol. 2
ویرایش: 1 نویسندگان: Professor D. M. Hercules (auth.), Prof. Dr. M. Grasserbauer, W. Wegscheider (eds.) سری: Mikrochimica Acta Supplementum 11 ISBN (شابک) : 9783211819050, 9783709188408 ناشر: Springer-Verlag Wien سال نشر: 1985 تعداد صفحات: 377 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 13 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 79,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل مواد: جلد. 2: شیمی تجزیه
در صورت تبدیل فایل کتاب Progress in Materials Analysis: Vol. 2 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل مواد: جلد. 2 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل مواد: جلد. 2
جلد 2 از \"پیشرفت در تجزیه و تحلیل مواد\" شامل سخنرانی های دوازدهمین کنفرانس تجزیه و تحلیل مواد، وین، 13-15 مه 1985 است. وضعیت فعلی و روند فعلی در تجزیه و تحلیل مواد با واقعیت بالا. موضوعات اصلی پوشش داده شده، تجزیه و تحلیل سطح، میکرو و ردیابی مواد با تأکید ویژه بر فلزات، اما همچنین شامل سایر مواد مانند سرامیک، نیمه هادی ها، پلیمرها است. با توجه به استراتژی جلسه، توجه بر روی یک رویکرد بین رشته ای به علم مواد متمرکز شده است - ترکیب شیمی تجزیه، فیزیک حالت جامد و فناوری. بنابراین گزارشهای پیشرفت در تکنیکهای تحلیلی مدرن مانند SIMS، SNMS، AES، XPS، طیفسنجی نابودی پوزیترون، EPMA، STEM، LAMMS و غیره و همچنین ارائههایی در مورد توسعه مواد ارائه میشوند. اکثر مشارکتها بر درمان مشکلات مهم در علم و فناوری مواد با ترکیبی (عمدتاً پیچیده) از تکنیکهای تحلیل فیزیکی و شیمیایی متمرکز هستند. وین، ژوئیه 1985 M. Grasserbauer محتویات صفحه هرکول، D. M. خصوصیات سطحی لایه های آلی نازک روی فلزات .............................. .............. .
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Vol. 2 of "Progress in Materials Analysis" contains the lectures of the 12th Colloquium on Materials Analysis, Vienna, May 13-15, 1985. Due to the top level international participation from industry and research insti tutions the proceedings offer a survey of the present state and current trends in materials analysis of high actuality. The major topics covered are surface, micro and trace analysis of materials with a special emphasis on metals but also including other materials like ceramics, semiconductors, polymers. According to the strategy of the meeting attention is focussed on an interdisciplinary approach to materials science - combining analytical chemistry, solid state physics and technol ogy. Therefore progress reports on modern analytical technique like SIMS, SNMS, AES, XPS, Positron Annihilation Spectroscopy, EPMA, STEM, LAMMS, etc. are contained as well as presentations on the development of materials. The majority of the contributions centers on the treatment of important problems in materials science and technology by a (mostly sophisticated) combination of physical and chemical analytical techniques. Vienna, July 1985 M. Grasserbauer Contents Page Hercules, D. M. Surface Characterization of Thin Organic Films on Metals ............................................. .
فهرست مطالب
Front Matter....Pages I-X
Surface Characterization of Thin Organic Films on Metals....Pages 1-28
Analysis of Very Thin Organic Fibres by Means of Small Spots Electron Spectroscopy for Chemical Analysis....Pages 29-32
Ion Implantation in the Surface Analysis of Solid Materials....Pages 33-47
Comparison of Ion Implantation Profiles Obtained by AES/Sputtering Measurements and Monte Carlo Calculations....Pages 49-69
Microfocussed Ion Beams for Surface Analysis and Depth Profiling....Pages 71-78
Secondary Neutral Mass Spectrometry Depth Profile Analysis of Silicides....Pages 79-88
Analysis of Thin Chromate Layers on Aluminium I. Opportunities and Limitations of Surface Analytical Methods....Pages 89-102
Analysis of Thin Chromate Layers on Aluminium II. Structure and Composition of No-rinse Conversion Layers....Pages 103-112
Surface Analytical Investigation of the Corrosion Behaviour of Ti(Pd) Samples....Pages 113-124
Determination of the Lubricant Thickness Distribution on Magnetic Disks by Means of X-Ray Induced Volatilization and Simultaneous Photoelectron Spectroscopy....Pages 125-135
Internal Quantification of Glow Discharge Optical Spectroscopy-Depth Profiles of Oxide and Nitride Layers on Metals....Pages 137-144
Element Profiling by Secondary Ion Mass Spectrometry of Surface Layers in Glasses....Pages 145-161
Neutral Primary Beam Secondary Ion Mass Spectrometry Analysis of Corrosion Phenomena on Glass Surfaces....Pages 163-170
Quantitative Distribution Analysis of Phosphorus in Silicon with Secondary Ion Mass Spectrometry....Pages 171-185
Positron Studies of Defects in Metals and Semiconductors....Pages 187-204
Kossel Technique and Positron Annihilation Used to Clarify Sintering Processes....Pages 205-227
Selection and Qualification Tests of High Temperature Materials by Special Microanalytical Methods....Pages 229-261
On the Application of Acoustic Emission Analysis to Evaluate the Integrity of Protective Coatings on High-Temperature Alloys....Pages 263-273
Microprobe Measurements to Determine the Melt Equilibria of High-Alloy Nickel Materials....Pages 275-287
Experimental Determination of the Depth Distribution of X-Ray Production Ф( ρz ) for X-Ray Energies Below 1 keV....Pages 289-297
Electron Probe Microanalysis of Oxygen and Determination of Oxide Film Thickness Using Gaussian Ф( ρz ) Curves....Pages 299-308
Procedures to Optimize the Measuring Methods in the Electron Probe Microanalysis of Low Energy X-Rays....Pages 309-318
Quantitative Microstructural Analysis of Sintered Silicon Nitride by Using a Thin-Window Energy Dispersive X-Ray Detector System....Pages 319-331
Optimizing the Microstructure of Implant Alloy TiA15Fe2.5 by Microprobe Analysis....Pages 333-341
Characterization of Technical Surfaces With a Coupled SEM-EDA-Image Analyzer System....Pages 343-350
Microanalytical Characterization of a Powder Metallurgical Ledeburitic Tool Steel by Transmission Electron Microscopy....Pages 351-361
Determination of the Bonding Behaviour of Carbon and Nitrogen in Micro-Alloyed Structural Steels....Pages 363-370
Analytical Electron Microscopy of Rare-Earth Permanent Magnet Materials....Pages 371-380
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Proteins in Food Processing
دانلود کتاب Functional analysis: A primer
دانلود کتاب The Logical Structure of Philosophy, Psychology, Mind and Language in Ludwig Wittgenstein and John Searle - Articles and Reviews 2006-2019 2nd Edition
