Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

این کار به خود متن مدارهای دیجیتالی بسیار یکپارچه با الگوهای تولید شده به صورت تصادفی می پردازد. روش جدیدی برای تخمین احتمال تشخیص خطا توسط یک الگوی تصادفی تولید شده و بر این اساس برای تعیین تعداد لازم الگوهای تصادفی ارائه شده است. در آزمایش تصادفی مرسوم، بسیاری از مدارها به مقادیر غیراقتصادی زیادی نمونه نیاز دارند. به منظور حل این مشکل، روشی برای تعیین چنین توزیع های بهینه برای الگوهای تصادفی پیشنهاد شده است که به ما امکان می دهد سطح بالایی از تشخیص خطا را انتظار داشته باشیم. در بسیاری از موارد، تعداد نمونه های مورد نیاز را می توان با چندین مرتبه کاهش داد. برای انجام یک خودآزمایی ساده، یک ماژول ارائه شده است که می تواند روی تراشه یکپارچه شود و الگوی را با توزیع های مورد نیاز در حالت تست تولید کند. هزینه اضافی در عناصر سوئیچینگ برای خودآزمایی با الگوهای تصادفی بهینه شده با آزمون تصادفی معمولی قابل مقایسه است. به دلیل روش‌های مورد بحث، کلاس مدارهایی که می‌توانند با الگوهای تصادفی خودآزمایش شوند را می‌توان بدون تحمیل هزینه‌های اضافی افزایش داد.

Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zufällig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest benötigen viele Schaltungen unwirtschaftlich große Mustermengen. Um dieses Problem zu lösen, wird eine Methode vorgeschlagen, für Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen Fällen kann so die nötige Musterzahl um mehrere Größenordnungen gesenkt werden. Zur Ausführung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der Mehraufwand an Schaltelementen für den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern ist mit dem herkömmlichen Zufallstest vergleichbar. Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen vergrößert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne daß signifikante Mehrkosten anfallen.