Principles of Analytical Electron Microscopy

از زمان انتشار کتاب مقدمه ای بر میکروسکوپ الکترونی تحلیلی در سال 1979 (ویرایشگر J. J. Hren، J. I. Goldstein و D. C. Joy؛ Plenum Press)، میکروسکوپ الکترونی تحلیلی هم به عنوان موضوعی برای تحقیقات علمی بنیادی و هم به عنوان یک موضوع به تکامل و بلوغ ادامه داد. ابزاری برای شناسایی مواد معدنی و آلی. گام‌های مهمی در درک ما از شکل‌گیری تصویر، پراش الکترون، و برهم‌کنش‌های پرتو/نمونه، هم از نظر "فیزیک فرآیندها" و هم اجرای عملی آنها در ابزارهای مدرن برداشته شده است. هدف ویراستاران و نویسندگان متن فعلی، اصول میکروسکوپ الکترونی تحلیلی، این است که این پیشرفت‌های اخیر در این موضوع را در یک جلد مختصر و به آسانی در دسترس قرار دهند. متن با یک بحث کامل در مورد اصول اولیه برای ایجاد پایه ای برای میکروسکوپ مدرن امروزی آغاز می شود. تمام حوزه‌های مهم در حال حاضر در میکروسکوپ الکترونی تحلیلی - از جمله اپتیک الکترونی، برهم‌کنش‌های پرتو الکترون/نمونه، تشکیل تصویر، میکروآنالیز اشعه ایکس، طیف‌سنجی اتلاف انرژی، پراش الکترونی و اثرات نمونه مورد توجه کامل قرار گرفته‌اند. برای افزایش سودمندی حجم برای بخش گسترده‌تری از جامعه علمی، رویکرد کتاب، به طور کلی، بیشتر توصیفی است تا ریاضی. با این حال، در برخی زمینه‌ها، مفاهیم ریاضی عمیقاً مورد بررسی قرار می‌گیرند و جذابیت را برای کسانی که به دنبال برخورد دقیق‌تری با موضوع هستند، افزایش می‌دهد.

Since the publication in 1979 of Introduction to Analytical Electron Microscopy (ed. J. J. Hren, J. I. Goldstein, and D. C. Joy; Plenum Press), analytical electron microscopy has continued to evolve and mature both as a topic for fundamental scientific investigation and as a tool for inorganic and organic materials characterization. Significant strides have been made in our understanding of image formation, electron diffraction, and beam/specimen interactions, both in terms of the "physics of the processes" and their practical implementation in modern instruments. It is the intent of the editors and authors of the current text, Principles of Analytical Electron Microscopy, to bring together, in one concise and readily accessible volume, these recent advances in the subject. The text begins with a thorough discussion of fundamentals to lay a foundation for today's state-of-the-art microscopy. All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention. To increase the utility of the volume to a broader cross section of the scientific community, the book's approach is, in general, more descriptive than mathematical. In some areas, however, mathematical concepts are dealt with in depth, increasing the appeal to those seeking a more rigorous treatment of the subject.