Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

استراتژی‌های تست و تست قدرت آگاه برای دستگاه‌های کم مصرف

ویرایش شده توسط:

پاتریک ژیرارد، مدیر تحقیقات، CNRS / LIRMM، فرانسه

نیکولا نیکولیچی، دانشیار دانشگاه مک مستر، کانادا

شیائوکینگ ون، پروفسور موسسه فناوری کیوشو، ژاپن

مدیریت مصرف برق مدارها و سیستم ها اکنون به عنوان یکی از مهمترین چالش های صنعت نیمه هادی است. استراتژی‌های پیچیده مدیریت توان، مانند مقیاس‌بندی ولتاژ، راه‌اندازی ساعت یا تکنیک‌های راه‌اندازی برق، امروزه برای کنترل اتلاف توان در طول عملیات عملکردی استفاده می‌شوند. استفاده از این استراتژی‌ها پیامدهای مختلفی بر تست ساخت دارد، و بنابراین تست آگاهی از قدرت به طور فزاینده‌ای در طول طراحی برای آزمایش و آماده‌سازی تست برای دستگاه‌های کم مصرف به یک موضوع مهم تبدیل می‌شود. این کتاب راه‌حل‌های موجود برای آزمایش آگاه از قدرت و طراحی برای آزمایش مدارها و سیستم‌های معمولی را بررسی می‌کند و استراتژی‌های تست و راه‌حل‌های اتوماسیون طراحی الکترونیکی (EDA) را برای آزمایش دستگاه‌های کم مصرف بررسی می‌کند.

1. نخستین کتاب جامع تست قدرت آگاه برای مدارها و سیستم‌های (کم مصرف)
2. به خوانندگان نشان می‌دهد که چگونه دستگاه‌های کم‌مصرف را می‌توان به طور ایمن و بدون تأثیر بر راندمان آزمایش کرد. قابلیت اطمینان
3. شامل اطلاعات پس زمینه لازم در مورد طراحی برای آزمایش و طراحی کم مصرف است
4. به تفصیل تکنیک های تست با محدودیت توان را پوشش می دهد، از جمله تولید الگوی تست خودکار آگاه از قدرت، طراحی برای تست، خودآزمایی داخلی و فشرده سازی آزمایشی
5. روش های صنعتی پیشرفته و راه حل های EDA را ارائه می دهد

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low-Power Devices

Edited by:

Patrick Girard, Research Director, CNRS / LIRMM, France

Nicola Nicolici, Associate Professor, McMaster University, Canada

Xiaoqing Wen, Professor, Kyushu Institute of Technology, Japan

Managing the power consumption of circuits and systems is now considered as one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low-power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and Electronic Design Automation (EDA) solutions for testing low-power devices.

1. The first comprehensive book on power-aware test for (low-power) circuits and systems
2. Shows readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability
3. Includes necessary background information on design-for-test and low-power design
4. Covers in detail power-constrained test techniques, including power-aware automatic test pattern generation, design-for-test, built-in self-test and test compression
5. Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions