دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: R. M. Miller (auth.), Professor Dr. Peter Hess, Professor Dr. Josef Pelzl (eds.) سری: Springer Series in Optical Sciences 58 ISBN (شابک) : 9783662137055, 9783540481812 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 1988 تعداد صفحات: 575 [588] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 19 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Photoacoustic and Photothermal Phenomena: Proceedings of the 5th International Topical Meeting, Heidelberg, Fed. Rep. of Germany, July 27–30, 1987 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پدیده های فوتوآکوستیک و فتوترمال: مجموعه مقالات پنجمین نشست بین المللی موضوعی، هایدلبرگ، فدرال رزرو. جمهوری آلمان، 27 تا 30 ژوئیه، 1987 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پدیدههای فوتوآکوستیک و فتوترمال شامل بررسیها و تعداد زیادی مقاله منتخب است که پیشرفت را در کاربرد تکنیکهای جدید فوتوآکوستیک و فوتوترمال در فیزیک، شیمی، زیستشناسی، پزشکی و علم مواد گزارش میدهند. کار تئوری و تجربی بر روی طیفسنجی، سینتیک و آرامش، آنالیز ردیابی، انتقال جرم و گرما، سطوح و لایههای نازک، ارزیابی غیرمخرب، امواج فراصوت و نیمهرساناها ارائه شده است.
photoacoustic and Photothermal Phenomena contains reviews and a large numberof selected contributed papers reporting progress in the application of new photoacoustic and photo- thermal techniques in physics, chemistry, biology, medicine and materials science. Theoretical and experimental work is presented on spectroscopy, kinetics and relaxation, trace analysis, mass and heat transport, surfaces and thin films, nondestructive evaluation,ultrasonics and semiconductors.