ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Particles on Surfaces: Detection: Adhesion, and Removal

دانلود کتاب ذرات روی سطوح: تشخیص: چسبندگی و حذف

Particles on Surfaces: Detection: Adhesion, and Removal

مشخصات کتاب

Particles on Surfaces: Detection: Adhesion, and Removal

ویرایش: First edition 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781003067429, 9781000127140 
ناشر: CRC Press 
سال نشر: 2020 
تعداد صفحات: 439 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 135 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب ذرات روی سطوح: تشخیص: چسبندگی و حذف: ذرات،علوم / شیمی / عمومی، علوم / شیمی / فیزیکی و نظری، سطوح (فناوری)، فناوری / علم مواد، کتاب های الکترونیک، ذرات -- کنگره ها، سطوح (فناوری) -- کنگره ها



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 7


در صورت تبدیل فایل کتاب Particles on Surfaces: Detection: Adhesion, and Removal به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب ذرات روی سطوح: تشخیص: چسبندگی و حذف نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب ذرات روی سطوح: تشخیص: چسبندگی و حذف

ذرات روی سطوح - تغییر شکل های ناشی از چسبندگی؛ برهمکنش های کششی نیروی سطحی بین ذرات اندازه میکرومتری و بستر کوپلیمر بلوکی پلی استر-PDMS. چسبندگی پلیمر به ذره که با میکروسکوپ نیروی اتمی کاوش شده است. شناسایی آلودگی ذرات سطحی در میکروالکترونیک مروری بر پدیده‌های آلودگی ذرات فضاپیما؛ آلودگی روی سطوح نوری - نگرانی، پیشگیری، تشخیص و حذف. یک سیستم پیشرفته شناسایی، حذف و جمع آوری ذرات سطحی و آلاینده های مولکولی؛ نقش یونیزاسیون هوا در کاهش آلودگی سطحی توسط ذرات در اتاق تمیز. انتخاب فرآیند تخلیه بدون آلودگی - آزمایش مواد انفجار ساینده. تولید و کنترل ذرات در طراحی لوله و اتصال لوله. تشخیص و شناسایی ذرات روی سطوح سیلیکونی؛ توصیف ذرات در فضاپیمای بازگشتی از مدار؛ یک روش پراکندگی نور برای تعیین ترکیب ذرات روی سطوح. پراکندگی نور توسط ذرات کروی بر روی بسترهای چند لایه مسطح. روش آزمایش جدید برای بررسی تمیزی ذرات سطوح فنی. تمایز بین آلودگی ذرات و نوع فیلم بر روی سطوح با استفاده از طیف سنجی فلورسانس انعکاس کامل اشعه ایکس. خصوصیات ذرات بر روی سطوح با طیف سنجی الکترونی اوگر. بررسی رفتار ذرات به اندازه میکرومتر بر روی سطوح دارای امواج صوتی متمرکز. حذف ذرات شیشه از سطوح شیشه ای - بررسی؛ ویژگی های حذف ذرات روش های تمیز کردن سطح شامل فراصوت و/یا برخورد با اسپری. دینامیک سیال جت های مایع مورد استفاده برای حذف ذرات از سطوح. حذف ذرات افزایش یافته از قطعات ابزار هدایت اینرسی توسط محلول های سورفکتانت فلوئوروکربن. تکنیک‌های تمیز کردن لیزر برای حذف ذرات ریز سطحی. این کار شامل مجموعه مقالات چهارمین سمپوزیوم ذرات روی سطوح است. پوشش کاغذ: تغییر شکل ذرات ناشی از چسبندگی روی سطوح. استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی در کاوش چسبندگی ذره-ذره. آلودگی ذرات در میکروالکترونیک، فضاپیماها و سطوح نوری؛ نقش یونیزاسیون هوا در کاهش آلودگی سطحی توسط ذرات در اتاق تمیز. رسانه های انفجار ساینده برای فرآیندهای تخلیه بدون آلودگی. و موارد دیگر. این کتاب برای شیمیدانان فیزیکی، شیمیایی، سطحی و کلوئیدی، دانشمندان مواد در نظر گرفته شده است. مهندسین پلیمر، پلاستیک، برق و الکترونیک، کامپیوتر، شیمی و مکانیک؛ و دانشجویان مقاطع بالاتر در مقاطع کارشناسی و کارشناسی ارشد در این رشته ها.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Particles on surfaces - adhesion induced deformations; surface force tensile interactions between micrometer size particles and a polyester-PDMS block copolymer substrate; polymer to particle adhesion probed with atomic force microscopy; surface particle contamination identification in microelectronics; an overview of spacecraft particulate contamination phenomena; contamination on optical surfaces-concerns, prevention, detection, and removal; an advanced surface particle and molecular contaminant identification, removal, and collection system; the role of air ionization in reducing surface contamination by particles in the cleanroom; selecting a contamination-free deburring process - testing abrasive blasting media; particle generation and control in tubing and piping connection design; detection and identification of particles on silicon surfaces; the characterization of particles on spacecraft returned from orbit; a light-scattering method for determining the composition of particles on surfaces; light scattering by spherical particles on planar multi-layered substrates; new test procedure for the examination of the particulate cleanliness of technical surfaces; discrimination between particulate and film type contamination on surfaces by means of total reflection X-ray fluorescence spectrometry; particle characterization on surfaces by Auger electron spectroscopy; interrogating the behavior of micrometer-sized particles on surfaces with focused acoustic waves; removal of glass particles from glass surfaces - a review; particle removal characteristics of surface cleaning methods involving sonication and/or spray impingement; fluid dynamics of liquid jets used for particle removal from surfaces; enhanced particle removal from inertial guidance instrument parts by fluorocarbon surfactant solutions; laser cleaning techniques for the removal of small surface particulates.;This work comprises the proceedings of the Fourth Symposium on Particles on Surfaces. Papers cover: adhesion-induced deformations of particles on surfaces; the use of atomic force microscopy in probing particle-particle adhesion; particle contamination in microelectronics, on spacecraft, and on optical surfaces; the role of air ionization in reducing surface contamination by particles in the cleanroom; abrasive blasting media for contamination-free deburring processes; and more.;The book is intended for physical, chemical, surface and colloid chemists, materials scientists; polymers, plastics, electrical and electronics, computer, chemical and mechanical engineers; and upper-level undergraduate and graduate students in these disciplines.



فهرست مطالب

Cover......Page 1
Half Title......Page 2
Title Page......Page 4
Copyright Page......Page 5
Preface......Page 6
Table of Contents......Page 8
Contributors......Page 12
Particles on Surfaces: Adhesion Induced Deformations......Page 18
Surface Force Tensile Interactions Between Micrometer Size Particles and a Polyester-PDMS Block Copolymer Substrate......Page 50
Polymer to Particle Adhesion Probed with Atomic Force Microscopy......Page 64
Surface Particle Contamination Identification in Microelectronics......Page 78
An Overview of Spacecraft Particulate Contamination Phenomena......Page 94
Contamination on Optical Surfaces—Concerns, Prevention, Detection, and Removal......Page 118
An Advanced Surface Particle and Molecular Contaminant Identification, Removal, and Collection System......Page 128
The Role of Air Ionization in Reducing Surface Contamination by Particles in the Cleanroom......Page 158
Selecting a Contamination-Free Deburring Process: Testing Abrasive Blasting Media......Page 168
Particle Generation and Control in Tubing and Piping Connection Design......Page 206
Detection and Identification of Particles on Silicon Surfaces......Page 218
The Characterization of Particles on Spacecraft Returned from Orbit......Page 236
A Light-Scattering Method for Determining the Composition of Particles on Surfaces......Page 270
Light Scattering by Spherical Particles on Planar Multi-Layered Substrates......Page 282
New Test Procedure for the Examination of the Particulate Cleanliness of Technical Surfaces......Page 306
Discrimination Between Particulate and Film Type Contamination on Surfaces by Means of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry......Page 328
Particle Characterization on Surfaces by Auger Electron Spectroscopy......Page 342
Interrogating the Behavior of Micrometer-Sized Particles on Surfaces with Focused Acoustic Waves......Page 352
Removal of Glass Particles from Glass Surfaces: A Review......Page 370
Particle Removal Characteristics of Surface Cleaning Methods Involving Sonication and/or Spray Impingement......Page 380
Fluid Dynamics of Liquid Jets Used for Particle Removal from Surfaces......Page 396
Enhanced Particle Removal from Inertial Guidance Instrument Parts by Fluorocarbon Surfactant Solutions......Page 412
Laser Cleaning Techniques for the Removal of Small Surface Particulates......Page 422
Index......Page 436




نظرات کاربران