ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Particles in Gases and Liquids 1: Detection, Characterization, and Control

دانلود کتاب ذرات موجود در گازها و مایعات 1: تشخیص ، خصوصیات و کنترل

Particles in Gases and Liquids 1: Detection, Characterization, and Control

مشخصات کتاب

Particles in Gases and Liquids 1: Detection, Characterization, and Control

ویرایش: 1 
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781461280859, 9781461307938 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 1989 
تعداد صفحات: 297 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 48,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب ذرات موجود در گازها و مایعات 1: تشخیص ، خصوصیات و کنترل: شیمی فیزیک



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Particles in Gases and Liquids 1: Detection, Characterization, and Control به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب ذرات موجود در گازها و مایعات 1: تشخیص ، خصوصیات و کنترل نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب ذرات موجود در گازها و مایعات 1: تشخیص ، خصوصیات و کنترل



این کتاب مجموعه مقالات سمپوزیوم ذرات در سیالات: تشخیص، مشخصه سازی و کنترل را که به عنوان بخشی از هجدهمین نشست انجمن ذرات ریز در بوستون، 3 تا 7 اوت 1987 در بوستون برگزار شد، مستند می کند. این سمپوزیوم برتر در این زمینه بود. و پاسخ آنقدر خوب بود که تصمیم گرفتیم آن را به صورت دوسالانه سازماندهی کنیم و دومین سمپوزیوم تحت عنوان ذرات در گازها و مایعات: تشخیص، مشخصه سازی و کنترل در بیستمین نشست انجمن ذرات ریز در بوستون، 22 آگوست برگزار خواهد شد. -26، 1989. در ساخت مدرن قطعات میکروالکترونیکی پیچیده و حساس و سایر قطعات دقیق، نگرانی زیادی در مورد تلفات عملکرد ناشی از ذرات میکرومتر و زیر میکرومتر وجود دارد. این ذرات می توانند از منابع مختلفی از جمله سیالات منشاء بگیرند. ه. ، گازها و مایعات مورد استفاده در فرآیند تولید. بنابراین شناسایی، شناسایی و کنترل و یا حذف این ذرات نامطلوب از اهمیت اساسی برخوردار است و این سمپوزیوم با توجه به این موضوع طراحی و برگزار شد. هدف از این سمپوزیوم گرد هم آوردن افرادی بود که فعالانه در تمام جنبه های ذرات در سیالات درگیر هستند، برای ایجاد یک انجمن برای بحث در مورد آخرین تکنیک ها برای تشخیص، شناسایی و کنترل ذرات، و برجسته کردن مناطقی که نیاز به تشدید تلاش های تحقیق و توسعه دارند. برنامه چاپ شده در مجموع شامل 46 مقاله بود و موضوعات مختلفی در مورد انشعابات مختلف ذرات در سیالات ارائه شد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book documents the proceedings of the Symposium on Particles in Fluids: Detection, Characterization and Control held as a part of the 18th Fine Particle Society meeting in Boston, August 3-7, 1987. This was the Premier symposium on this topic and the response was so good that we have decided to organize it on a biennial basis and the second symposium will be held under the rubric Particles in Gases and Liquids: Detection, Characterization and Control at the 20th Fine Particle Society meeting in Boston, August 22-26, 1989. In the modern manufacture of sophisticated and sensitive microelectronic components and other precision parts, there has been a great deal of concern about yield losses due to micrometer- and submicrometer-sized particles. These particles can originate from a number of sources including fluids, i. e. , gases and liquids used in the manufacturing process. So the detection, characterization and control or removal of these undesirable particles is of cardinal importance and this symposium was conceived and o~ganized with this in mind. The purposes of this symposium were to bring together those actively involved in all aspects of particles in fluids, to provide a forum for discussion of the latest techniques for the detection, characterization and control of particles, and to highlight areas which needed intensified R&D efforts. The printed program contained a total of 46 papers and a variety of topics dealing with various ramifications of particles in fluids were presented.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-viii
Monitoring Contaminant Particles in Gases and Liquids: A Review....Pages 1-33
Measuring and Identifying Particles in Ultrapure Water....Pages 35-50
Non-Poisson Models of Particle Counting....Pages 51-79
Liquid Particle Counter Comparison....Pages 81-95
Particle Counting of Liquid Systems Using a Scanning Electron Microscope....Pages 97-119
Improved Methodology for Measurement of Particle Concentrations in Semiconductor Process Chemicals....Pages 121-134
Calibration of the Photo-Sedimentometer Lumosed with a Powder of Known Particle Size Distribution....Pages 135-141
Particle Contamination Control and Measurement in Ultra-Pure VLSI Grade Inert Gases....Pages 143-156
Design and Practical Considerations in Using Cascade Impactors to Collect Particle Samples from Process Gases for Identification....Pages 157-165
In-Situ Monitoring of Particulate Contamination in Integrated Circuit Process Equipment....Pages 167-173
A Real-Time Fallout Monitor for 5–250 Micrometer Particles....Pages 175-184
Measurement and Control of Particle-Bearing Air Currents in a Vertical Laminar Flow Clean Room....Pages 185-194
Particle Deposition Velocity Studies in Silicon Technology....Pages 195-204
Influence of Particle Charge on the Collection Efficiency of Electrified Filter Mats....Pages 205-221
Particle Retention and Downstream Cleanliness of Point-of-Use Filters for Semiconductor Process Gases....Pages 223-233
A Fluid Dynamic Study of a Microcontaminant Particles Removal Process....Pages 235-257
Particle Removal from Semiconductor Wafers Using Cleaning Solvents....Pages 259-271
Particle Contributions of Three Types of Cleanroom Jumpsuits....Pages 273-281
Particulate Generation in Devices Used in Clean Manufacturing....Pages 283-293
Back Matter....Pages 295-303




نظرات کاربران