ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Optical Characterization of Real Surfaces and Films

دانلود کتاب خصوصیات نوری سطوح و فیلم های واقعی

Optical Characterization of Real Surfaces and Films

مشخصات کتاب

Optical Characterization of Real Surfaces and Films

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Physics of Thin Films 19 
ISBN (شابک) : 9780125330190, 0125330197 
ناشر: Academic Press 
سال نشر: 1994 
تعداد صفحات: 334 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 45,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 24


در صورت تبدیل فایل کتاب Optical Characterization of Real Surfaces and Films به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب خصوصیات نوری سطوح و فیلم های واقعی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب خصوصیات نوری سطوح و فیلم های واقعی

این جلد جدید از سریال بسیار معتبر فیزیک لایه‌های نازک به بحث ناهمگنی در فیلم‌ها و سطوح واقعی می‌پردازد. حجم، ویرایش شده توسط مهمان توسط K. Vedam، رشد لایه های نازک را هم از سطح زیرلایه و هم از سطح اتمی، لایه به لایه دنبال می کند. متن شامل پوشش بیضی‌سنجی طیف‌سنجی بی‌درنگ (RTSE) و ناهمسانگردی بازتابی (RA)، دو تکنیک نوری مهمی است که برای توصیف فیلم‌ها و سطوح در زمان واقعی و درجا استفاده می‌شوند. در شش فصل روشن‌تر، مشارکت‌کنندگان تأثیر این تکنیک‌ها، نقاط قوت و محدودیت‌های آن‌ها و پتانسیل آن‌ها را برای توسعه بیشتر ارزیابی می‌کنند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This new volume of the highly respected Physics of Thin Films Serial discusses inhomogeneity in real films and surfaces. The volume, guest-edited by K. Vedam, follows the growth of thin films both from the surface of the substrate, and from the atomic level, layer by layer. The text features coverage of Real-Time Spectroscopic Ellipsometry (RTSE) and Reflectance Anisotropy (RA), two major breakthrough optical techniques used to characterize real time and insitu films and surfaces. In six insightful chapters, the contributors assess the impact of these techniques, their strengths and limitations, and their potential for further development



فهرست مطالب

Content: 
Serial Editors
Page ii

Front Matter
Page iii

Copyright page
Page iv

Contributors
Pages ix-x

Preface
Pages xi-xv

In Situ Studies of Crystalline Semiconductor Surfaces by Reflectance Anisotropy
Pages 1-48
B. DRÉVILLON, V. YAKOVLEV

Real-Time Spectroscopic Ellipsometry Studies of the Nucleation, Growth, and Optical Functions of Thin Films, Part I: Tetrahedrally Bonded Materials
Pages 49-125
ROBERT W. COLLINS, ILSIN AN, HIEN V. NGUYEN, YOUMING LI, YIWEI LU

Real-Time Spectroscopic Ellipsometry Studies of the Nucleation, Growth, and Optical Functions of Thin Films, Part II: Aluminum
Pages 127-189
HIEN V. NGUYEN, ILSIN AN, ROBERT W. COLLINS

Optical Characterization of Inhomogeneous Transparent Films on Transparent Substrates by Spectroscopic Ellipsometry
Pages 191-247
P. CHINDAUDOM, K. VEDAM

Characterization of Ferroelectric Films by Spectroscopic Ellipsometry
Pages 249-278
S. TROLIER-MCKINSTRY, P. CHINDAUDOM, K. VEDAM, R.E. NEWNHAM

Effects of Optical Anisotropy on Spectro-ellipsometric Data for Thin Films and Surfaces
Pages 279-314
ATUL N. PARIKH, DAVID L. ALLARA

Author Index
Pages 315-321

Subject Index
Pages 323-328





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی