دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب On-Line Testing for VLSI
دانلود کتاب تست آنلاین برای VLSI
مشخصات کتاب
On-Line Testing for VLSI
ویرایش: 1 نویسندگان: M. Nicolaidis, Y. Zorian (auth.), Michael Nicolaidis, Yervan Zorian, Dhiraj K. Pradan (eds.) سری: Frontiers in Electronic Testing 11 ISBN (شابک) : 9781441950338, 9781475760699 ناشر: Springer US سال نشر: 1998 تعداد صفحات: 151 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 8 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 57,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست آنلاین برای VLSI: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی
در صورت تبدیل فایل کتاب On-Line Testing for VLSI به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست آنلاین برای VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تست آنلاین برای VLSI
عملکردهای آزمایشی (تشخیص خطا، تشخیص، تصحیح خطا، تعمیر، و
غیره) که همزمان در زمانی که سیستم به عملکرد مورد نظر خود
ادامه می‌دهد به‌عنوان تست آنلاین تعریف می‌شوند. در
دامنه گسترده خود، آزمایش آنلاین شامل طراحی زیرسیستم های بررسی
خطای همزمان است که می توانند خود کنترل شوند، سیستم های ایمن
که حتی پس از وقوع خطا به درستی کار می کنند، نظارت بر قابلیت
اطمینان، و خودآزمایی و خطا. طرح های متحمل
آزمایش آنلاین برای VLSI شامل مجموعه‌ای از مقالات
منتخب است که بسیاری از جنبه‌های مدرن تست آنلاین را که امروزه
با آن مواجه هستیم، مورد بحث قرار می‌دهد. مشارکت‌ها عمدتاً از
کارگاه‌های آزمایشی آنلاین بین‌المللی
IEEEبرخط گرفته شده‌اند. ویراستاران مهمان، مایکل
نیکولایدیس، یروانت زوریان و دراج پرادان، مقالات را در شش فصل
تنظیم کردند. در فصل اول، ویراستاران تعداد زیادی از رویکردها
را با کتابشناسی گسترده معرفی می کنند که در آن برخی از مراجع
به دهه شصت باز می گردد.
تست آنلاین برای VLSI یک جلد ویرایش شده از تحقیقات
اصلی است که شامل مشارکت های دعوت شده توسط محققان برجسته است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Test functions (fault detection, diagnosis, error correction,
repair, etc.) that are applied concurrently while the system
continues its intended function are defined as on-line
testing. In its expanded scope, on-line testing includes
the design of concurrent error checking subsystems that can
be themselves self-checking, fail-safe systems that continue
to function correctly even after an error occurs, reliability
monitoring, and self-test and fault-tolerant designs.
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of
articles that discuss many of the modern aspects of on-line
testing as faced today. The contributions are largely derived
from recent IEEE InternationalOn-Line Testing
Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant
Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six
chapters. In the first chapter the editors introduce a large
number of approaches with an expanded bibliography in which
some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of
original research comprising invited contributions by leading
researchers.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages 1-5
On-line Testing for VLSI—A Compendium of Approaches....Pages 7-20
On-Line Fault Monitoring....Pages 21-27
Efficient Totally Self-Checking Shifter Design....Pages 29-39
A New Design Method for Self-Checking Unidirectional Combinational Circuits....Pages 41-53
Concurrent Delay Testing in Totally Self-Checking Systems....Pages 55-61
Design of Self-Testing Checkers for m -out-of- n Codes Using Parallel Counters....Pages 63-68
Self-Testing Embedded Two-Rail Checkers....Pages 69-79
Thermal Monitoring of Self-Checking Systems....Pages 81-92
Integrated Temperature Sensors for On-Line Thermal Monitoring of Microelectronic Structures....Pages 93-99
Clocked Dosimeter Compatible with Digital CMOS Technology....Pages 101-110
Scalable Test Generators for High-Speed Datapath Circuits....Pages 111-125
Mixed-Mode BIST Using Embedded Processors....Pages 127-138
A BIST Scheme for Non-Volatile Memories....Pages 139-144
On-Line Fault Resilience Through Gracefully Degradable ASICs....Pages 145-151
Delivering Dependable Telecommunication Services Using Off-the-Shelf System Components....Pages 153-159
Back Matter....Pages 161-161
