دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: J. A. Davies (auth.), E. Recknagel, J. C. Soares (eds.) سری: NATO ASI Series 144 ISBN (شابک) : 9789401077590, 9789400928008 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 1988 تعداد صفحات: 458 [451] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 32 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Nuclear Physics Applications on Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کاربردهای فیزیک هسته ای در علم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Front Matter....Pages i-xiii
Front Matter....Pages N1-N1
An Historical Perspective on Channeling and Ion Implantation....Pages 1-21
Ion Beam Studies of Crystal and Interface Atomic Structure....Pages 23-73
Materials Research with Channeling Combined with RBS, NRA and PIXE....Pages 75-115
Resonance Planar Channeling Effect on Superlattices....Pages 117-132
Channeling Radiation....Pages 133-156
Localization of Impurity Atoms by Channeling of Electrons and Positrons....Pages 157-166
Applications of Mössbauer Spectroscopy to Characterize Highly Doped Semiconductors....Pages 167-172
Ion Beams as Tools of Materials Analysis....Pages 173-181
Amorphous Phase Formation in Ion-Bombarded Metallic Alloys....Pages 183-208
On Amorphization of NI-ZR by Ion-Beam Mixing and Other Techniques....Pages 209-213
Rapid Thermal Annealing of Ion Implanted Semiconductors....Pages 215-238
Impurity — Defect Interaction in Metals....Pages 239-261
High Resolution Studies of the Internal Oxidation of Hafnium Implanted Magnesium Single Crystals, Using BaF 2 Detectors....Pages 263-268
Study of Nitrogen in Niobium and Tantalum Using the Perturbed Angular Correlation Method....Pages 269-274
Metal-Hydrogen Systems Studied by PAC....Pages 275-295
Surface Studies with Hyperfine Probes....Pages 297-311
Peculiar Processes in Glass Surface Analysis....Pages 313-326
Local Magnetism in Alloying and Nonalloying Systems....Pages 327-367
Interface Tailoring to Enhance Thin Film Adhesion — A Review....Pages 369-376
Perspectives....Pages 377-389
Front Matter....Pages 391-391
A Channeling Study of the Superionic ß-PbF 2 ....Pages 393-395
RBS Study of Annealed Iron-Aluminum Bilayer....Pages 397-400
Abnormal Vibrations of Cd Atoms in Zn x Cd 1-x Te as Deduced from Pixe-Rbs Channeling Experiments....Pages 401-402
Laser induced effects on the HgCdTe surface characterized by RBS and AES....Pages 403-404
MeV Implants Into GaAs....Pages 405-407
TDPAD measurements on Diamond and some of its Atiotropes....Pages 409-411
Study of the NbH x System in the Region 0.75≤x≤0.90 by Perturbed Angular Correlations....Pages 413-414
Hydrogen Decoration of Vacancy Defects in Platinum....Pages 415-416
PAC Studies on 111 In Implanted into Metal Oxides....Pages 417-419
Formation of Oxygen Decorated Defects in AgCd Alloys....Pages 421-424
TDPAC Study of Cadmium-Indium Alloys....Pages 425-426
The high-T c superconductor La 1.8 Sr 0.2 CuO 4 studied by DPAC....Pages 427-428
Diffusion of 111 CD on MO (110) Surfaces Observed by PAC....Pages 429-430
On the Orientation Dependence of TDPAC Spectra....Pages 431-432
A TDC — PC Interface for DPAC....Pages 433-434
Defect Trapping in Iron Studied by NMR/ON....Pages 435-437
H-Implantation-Induced Damage in Si....Pages 439-440
Positron Annihilation Studies in Neutron Irradiated Steels....Pages 441-442
Scattering Mechanisms of 4 He + Ions on Thin and Thick Cylindrical Targets of Heavy Metals....Pages 443-445
Effect of α-Recoll Damage on the Elastic Moduli of Zircon and Tourmaline....Pages 447-448
Front Matter....Pages 391-391
Use of X-Rays for Characterizing Lightguide Materials....Pages 449-452
A System Developed for Measuring the Luminescent Properties of Semiconductors....Pages 453-454
Back Matter....Pages 455-458