Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3

این کتاب آخرین پیشرفت‌ها در میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی را ارائه می‌کند. این به توابع و کاربردهای برجسته زیر می پردازد که با وضوح اتمی پس از انتشار جلد 2 به دست آمده اند: (1) تصویربرداری نیروی دافعه پائولی از ساختار مولکولی، (2) کاربردهای طیف سنجی نیرو و نقشه برداری نیرو با وضوح اتمی، (3) ) کاربردهای چنگال تنظیم، (4) کاربردهای دستکاری اتمی/مولکولی، (5) کاربردهای میکروسکوپ نیروی تبادل مغناطیسی، (6) کاربردهای تصویربرداری اتمی و مولکولی در مایعات، (7) کاربردهای ترکیبی AFM/STM با وضوح اتمی و (8) فن آوری های جدید در میکروسکوپ نیروی دینامیکی. این نتایج و فناوری‌ها اکنون ظرفیت NC-AFM را با توابع تصویربرداری در مقیاس اتمی گسترش می‌دهند تا آن‌ها را به ابزارهایی برای توصیف و دستکاری اتم‌ها/مولکول‌ها و نانوساختارهای جداگانه، با قابلیت برجسته در سطح وضوح مولکولی، اتمی و زیراتمی تبدیل کنند. . از زمان انتشار جلد. 2 از کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی در سال 2009، میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی، که می تواند حتی عایق ها را با وضوح اتمی تصویر کند، به پیشرفت قابل توجهی دست یافته است. NC-AFM اکنون برای علم نانو و فناوری نانو بسیار مهم است.

This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology.