برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل فیلم نازک نانو: اصول و فنون

مشخصات کتاب

Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques

دسته بندی: فناوری نانو
ویرایش: 1 
نویسندگان: Terry L. Alford,  L.C. Feldman,  James W. Mayer  
سری:  
ISBN (شابک) : 0387292608 
ناشر: Springer 
سال نشر: 2007 
تعداد صفحات: 349 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 32,000

کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل فیلم نازک نانو: اصول و فنون: رشته های ویژه، نانومواد و فناوری نانو، روش های تحقیق نانومواد

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 12

در صورت تبدیل فایل کتاب Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل فیلم نازک نانو: اصول و فنون نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل فیلم نازک نانو: اصول و فنون

علم و فناوری مدرن، از علم مواد گرفته تا توسعه مدارهای مجتمع، به سمت مقیاس نانو هدایت شده است. از لایه های نازک گرفته تا ترانزیستورهای اثر میدانی، تاکید بر کاهش ابعاد از میکرو به مقیاس نانو است. مبانی آنالیز فیلم در مقیاس نانو بر تجزیه و تحلیل ساختار و ترکیب سطح و عمق چند ده تا صد نانومتری بیرونی متمرکز است. این کتاب تکنیک‌های مشخص‌سازی را برای تعیین کمیت ساختار، ترکیب و توزیع عمق مواد با استفاده از ذرات و فوتون‌های پرانرژی توصیف می‌کند. این واکنش های القایی منجر به گسیل انواع ذرات و فوتون های شناسایی شده می شود. این انرژی و شدت پرتوهای شناسایی شده است که اساس خصوصیات مواد است. مجموعه ای از تکنیک های تجربی مورد استفاده در تجزیه و تحلیل مواد در مقیاس نانو، طیف وسیعی از ذرات برخوردی و برهمکنش های پرتو شناسایی شده را پوشش می دهد. برهمکنش های مهمی مانند برخورد اتمی، پراکندگی عقب رادرفورد، کانال یونی، پراش، جذب فوتون، انتقال تابشی و غیر تشعشعی و واکنش های هسته ای را شامل می شود. . انواع تکنیک های میکروسکوپ کاوشگر تحلیلی و روبشی به تفصیل ارائه شده است.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures. These induced reactions lead to the emission of a variety of detected of particles and photons. It is the energy and intensity of the detected beams that is the basis of the characterization of the materials. The array of experimental techniques used in nanoscale materials analysis covers a wide range of incident particle and detected beam interactions.Included are such important interactions as atomic collisions, Rutherford backscattering, ion channeling, diffraction, photon absorption, radiative and nonradiative transitions, and nuclear reactions. A variety of analytical and scanning probe microscopy techniques are presented in detail.