دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: H. Rohrer (auth.), Andrew A. Gewirth, Hans Siegenthaler (eds.) سری: NATO ASI Series 288 ISBN (شابک) : 9789048145416, 9789401584357 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 1995 تعداد صفحات: 340 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 15 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پروب های مقیاس نانو از رابط جامد / مایع: الکتروشیمی، شیمی فیزیک، سطوح و رابطها، لایههای نازک، علم اندازهگیری و ابزار دقیق
در صورت تبدیل فایل کتاب Nanoscale Probes of the Solid/Liquid Interface به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پروب های مقیاس نانو از رابط جامد / مایع نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
کاوشگرهای نانومقیاس رابط جامد-مایع با استفاده از
میکروسکوپ تونل زنی روبشی (STM) و ابزار دقیق مرتبط برای بررسی
پدیدههای رخ داده در سطح مشترک بین جامد و مایع سروکار
دارد.
میکروسکوپ کاوشگر روبشی (اصطلاح جمعی برای ابزارهایی مانند STM،
میکروسکوپ نیروی اتمی و ابزار دقیق مرتبط) امکان بینش دقیق و
واقعی اتمی فضایی یا مقیاس شبکه ای را در مورد ساختارهای سطحی
فراهم می کند، اطلاعاتی که به طور ایده آل با واکنش پذیری سطح
در ارتباط است. استفاده از روشهای SPM محدود به خلاء
فوقالعاده بالا نیست: STM و AFM بر روی نمونههای غوطهور در
محلول یا هوای محیط استفاده شدهاند، بنابراین امکان مطالعه
اثرات محیطی روی سطوح را فراهم میکند. در فصل مشترک جامد-مایع،
واکنش پذیری دقیقاً از حضور محلول و در بسیاری موارد، استفاده
از یک پتانسیل خارجی ناشی می شود.
موضوعات تحت پوشش در جلد حاضر عبارتند از: مزایای مطالعه
جامد--مایع رابط و به دست آوردن اطلاعات اضافی از اندازه گیری
پروب. روابط متقابل بین نوک پروب، رابط و فرآیند تونل سازی.
اندازه گیری STM در سطوح نیمه هادی. میکروسکوپ الکتروشیمیایی
روبشی، AFM و رابط جامد-مایع. پراکندگی اشعه ایکس سطحی؛ تشکیل
خوشه بر روی الکترودهای گرافیتی. رسوب مس بر روی سطوح طلا.
رویدادهای ماکروسکوپی پس از رسوب مس. رسوب خوشه های فلزی کوچک
بر روی کربن. رسوب بیش از حد پتانسیل فلزات؛ رسوب کم پتانسیل؛
STM در سوپرشبکه های سرامیکی در مقیاس نانو؛ رویدادهای بازسازی
در سطوح Au(ijk). بازسازی سطح طلا; اندازه گیری نیروی
اصطکاک بر روی پله های گرافیت تحت کنترل پتانسیل. و زیست
سازگاری مواد.
Nanoscale Probes of the Solid--Liquid Interface
deals with the use of the scanning tunnelling microscope
(STM) and related instrumentation to examine the phenomena
occurring at the interface between solid and liquid.
Scanning probe microscopy (the collective term for such
instruments as the STM, the atomic force microscope and
related instrumentation) allows detailed, real space atomic
or lattice scale insight into surface structures, information
which is ideally correlated with surface reactivity. The use
of SPM methods is not restricted to ultrahigh vacuum: the STM
and AFM have been used on samples immersed in solution or in
ambient air, thus permitting a study of environmental effects
on surfaces. At the solid--liquid interface the reactivity
derives precisely from the presence of the solution and, in
many cases, the application of an external potential.
Topics covered in the present volume include: the advantages
of studying the solid--liquid interface and the obtaining of
additional information from probe measurements;
interrelationships between probe tip, the interface and the
tunnelling process; STM measurements on semiconductor
surfaces; the scanning electrochemical microscope, AFM and
the solid--liquid interface; surface X-ray scattering;
cluster formation on graphite electrodes; Cu deposition on Au
surfaces; macroscopic events following Cu deposition;
deposition of small metallic clusters on carbon;
overpotential deposition of metals; underpotential
deposition; STM on nanoscale ceramic superlattices;
reconstruction events on Au(ijk) surfaces; Au
surface reconstructions; friction force measurements on
graphite steps under potential control; and the
biocompatibility of materials.
Front Matter....Pages i-xv
Solid-Liquid: The Interface of the Future....Pages 1-3
The Metal-Solution Interface in the STM-Configuration....Pages 5-24
Electron Tunneling in Electrochemical STM....Pages 25-43
In-Situ Scanning Tunneling Microscopy in Semiconductor Electrochemistry....Pages 45-67
A Description of the Scanning Electrochemical Microscope (SECM) and of Its Applications....Pages 69-82
AFM Studies of Copper Solid-Liquid Interfaces....Pages 83-101
Surface X-ray Scattering and Scanning Tunneling Microscopy Studies at the Au(111) Electrode....Pages 103-119
Cluster Formation and Dissolution on Electrode Surfaces....Pages 121-136
The Initial Stages of Electrolytic Copper Deposition: An Atomistic View....Pages 137-162
Scanning Probe Microscopy Studies of Copper Electrodeposition....Pages 163-182
Electrochemical Deposition of Metal Nano-Disk Structures Using the Scanning Tunneling Microscope....Pages 183-192
Fundamentals of Electrodeposition of Metals....Pages 193-213
Electrochemical and in situ STM Studies of UPD and OPD of Metals in Different Model Systems....Pages 215-248
Real-Space Imaging of Nanoscale Electrodeposited Ceramic Superlattices in the Scanning Tunneling Microscope....Pages 249-262
The Surface Structure of Gold Single-Crystal Electrodes....Pages 263-284
Harmony of Electrochemical Results, in Situ STM Observations and in Situ SXRS Data, at Gold Faces — Aqueous Solution Interfaces....Pages 285-306
Friction Force Measurements on Graphite Steps under Potential Control....Pages 307-315
Nanoscale Probing of Biocompatibility of Materials....Pages 317-331
Back Matter....Pages 333-334