Modeling nanoscale imaging in electron microscopy

مدل‌سازی تصویربرداری در مقیاس نانو در میکروسکوپ الکترونی پیشرفت‌های اخیر را ارائه می‌کند که با استفاده از روش‌های ریاضی برای حل مشکلات در میکروسکوپ انجام شده است. با پیشرفت در نرم‌افزار انحراف مبتنی بر سخت‌افزار که قابلیت‌های تصویربرداری در مقیاس نانو میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری روبشی (STEM) را به طور قابل‌توجهی گسترش می‌دهد، این مدل‌های ریاضی می‌توانند جایگزین برخی از روش‌های کار فشرده مورد استفاده برای کارکرد و نگهداری STEM شوند. این کتاب که اولین کتاب در زمینه خود از سال 1998 است، همچنین مفاهیم مرتبطی مانند تکنیک‌های وضوح فوق‌العاده، روش‌های ویژه حذف نویز، کاربرد نظریه یادگیری ریاضی/آماری، و سنجش فشرده را پوشش می‌دهد.

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.