دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Justyna Zander (Editor), Ina Schieferdecker (Editor), Pieter J. Mosterman (Editor) سری: ISBN (شابک) : 9781315218021, 9781439818473 ناشر: CRC Press سال نشر: 2012 تعداد صفحات: 668 زبان: فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 10 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست مبتنی بر مدل برای سیستم های جاسازی شده: علوم کامپیوتر، مهندسی کامپیوتر، مهندسی و فناوری، مهندسی برق و الکترونیک، مدارها و دستگاهها، سیستمها و کنترلها
در صورت تبدیل فایل کتاب Model-Based Testing for Embedded Systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست مبتنی بر مدل برای سیستم های جاسازی شده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Part I: Introduction
A Taxonomy of Model-Based Testing for Embedded Systems from Multiple Industry Domains, J. Zander, I. Schieferdecker, and P.J. Mosterman
Behavioral System Models versus Models of Testing Strategies in Functional Test Generation, A. Huima
Test Framework Architectures for Model-Based Embedded System Testing, S.P. Masticola and M. Gall
Part II: Automatic Test Generation
Automatic Model-Based Test Generation from UML State Machines, S. Weissleder and H. Schlingloff
Automated Statistical Testing for Embedded Systems, J.H. Poore, L. Lin, R. Eschbach, and T. Bauer
How to Design Extended Finite State Machine Test Models in Java, M. Utting
Automatic Testing of LUSTRE/SCADE Programs, V. Papailiopoulou, B. Seljimi, and I. Parissis
Test Generation Using Symbolic Animation of Models, F. Dadeau, F. Peureux, B. Legeard, R. Tissot, J. Julliand, P.-A. Masson, and F. Bouquet
Part III: Integration and Multi-level Testing
Model-Based Integration Testing with Communication Sequence Graphs, F. Belli, A. Hollmann, and S. Padberg
A Model-Based View onto Testing: Criteria for the Derivation of Entry Tests for Integration Testing, M. Broy and A. Pretschner
Multilevel Testing for Embedded Systems, A. Marrero Perez and S. Kaiser
Model-Based X-in-the-Loop Testing, J. Grossmann, P. Makedonski, H.-W. Wiesbrock, J. Svacina, I. Schieferdecker, and J. Grabowski
Part IV: Specific Approaches
A Survey of Model-Based Software Product Lines Testing, S. Oster, A. Wubbeke, G. Engels, and A. Schörr
Model-Based Testing of Hybrid Systems, T. Dang
Reactive Testing of Nondeterministic Systems by Test Purpose-Directed Tester, J. Vain, A. Kull, M. Kääramees, M. Markvardt, and K. Raiend
Model-Based Passive Testing of Safety-Critical Components, S. Gruner and B. Watson
Part V: Testing in Industry
Applying Model-Based Testing in the Telecommunication Domain, F. Abbors, V.-M. Aho, J. Koivulainen, R. Teittinen, and D. Truscan
Model-Based GUI Testing of Smartphone Applications: Case S60™ and Linux®, A. Jääskeläinen, T. Takala, and M. Katara
Model-Based Testing in Embedded Automotive Systems, P. Skruch, M. Panek, and B. Kowalczyk
Part VI: Testing at the Lower Levels of Development
Testing-Based Translation Validation of Generated Code, M. Conrad
Model-Based Testing of Analog Embedded Systems Components, L. Barford
Dynamic Verification of SystemC Transactional Models, L. Pierre and L. Ferro
Index