ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Microscopy of semiconducting materials 2001 : proceedings of the Royal Microscopical Society conference, Oxford University, 25-29 March 2001

دانلود کتاب میکروسکوپی مواد نیمه هادی 2001: مجموعه مقالات کنفرانس انجمن سلطنتی میکروسکوپی، دانشگاه آکسفورد، 25-29 مارس 2001

Microscopy of semiconducting materials 2001 : proceedings of the Royal Microscopical Society conference, Oxford University, 25-29 March 2001

مشخصات کتاب

Microscopy of semiconducting materials 2001 : proceedings of the Royal Microscopical Society conference, Oxford University, 25-29 March 2001

ویرایش: 1 
نویسندگان: ,   
سری: Institute of Physics conference series 169 
ISBN (شابک) : 0750308184, 9780750308182 
ناشر: Institute of Physics Publishing;CRC Press 
سال نشر: 2001 
تعداد صفحات: 627 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 163 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب Microscopy of semiconducting materials 2001 : proceedings of the Royal Microscopical Society conference, Oxford University, 25-29 March 2001 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپی مواد نیمه هادی 2001: مجموعه مقالات کنفرانس انجمن سلطنتی میکروسکوپی، دانشگاه آکسفورد، 25-29 مارس 2001 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپی مواد نیمه هادی 2001: مجموعه مقالات کنفرانس انجمن سلطنتی میکروسکوپی، دانشگاه آکسفورد، 25-29 مارس 2001

مجموعه کنفرانس‌های موسسه فیزیک یک رسانه بین‌المللی پیشرو برای انتشار سریع مقالات کنفرانس‌ها و سمپوزیوم‌های بزرگ است که تحولات جدید در فیزیک و حوزه‌های مرتبط را بررسی می‌کند. جلدهای این مجموعه شامل مقالات داوری اصلی است و به عنوان آثار داوری استاندارد در نظر گرفته می شود. به این ترتیب، آنها بخش مهمی از مجموعه های کتابخانه های بزرگ در سراسر جهان هستند.

دوازدهمین کنفرانس در مورد میکروسکوپ مواد نیمه هادی (MSM) در دانشگاه آکسفورد، 25-29 مارس 2001 برگزار شد. کنفرانس های MSM بر روی پیشرفت های بین المللی اخیر در مطالعات نیمه هادی انجام شده توسط همه اشکال میکروسکوپ. این رویداد با حمایت علمی توسط انجمن سلطنتی میکروسکوپی، گروه میکروسکوپ الکترونی و تجزیه و تحلیل مؤسسه فیزیک و انجمن تحقیقات مواد سازماندهی شد.

با کوچک شدن مداوم ابعاد دستگاه الکترونیکی و همراه با افزایش عملکرد دستگاه درک خواص میکروسکوپی نیمه هادی در مقیاس نانو (و حتی در مقیاس اتمی) به طور فزاینده ای برای پیشرفت بیشتر ضروری است. مجموعه مقالات این کنفرانس مروری بر آخرین ابزار دقیق، تکنیک‌های آنالیز و پیشرفت‌های پیشرفته در علم مواد نیمه‌رسانا برای فیزیکدانان حالت جامد، شیمی‌دانان و دانشمندان مواد ارائه می‌کند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The Institute of Physics Conference Series is a leading International medium for the rapid publication of proceedings of major conferences and symposia reviewing new developments in physics and related areas. Volumes in the series comprise original refereed papers and are regarded as standard referee works. As such, they are an essential part of major libration collections worldwide.

The twelfth conference on the Microscopy of Semiconducting Materials (MSM) was held at the University of Oxford, 25-29 March 2001. MSM conferences focus on recent international advances in semiconductor studies carried out by all forms of microscopy. The event was organized with scientific sponsorship by the Royal Microscopical Society, The Electron Microscopy and Analysis Group of the Institute of Physics and the Materials Research Society.

With the continual shrinking of electronic device dimensions and accompanying enhancement in device performance, the understanding of semiconductor microscopic properties at the nanoscale (and even at the atomic scale) is increasingly critical for further progress to be achieved. This conference proceedings provides an overview of the latest instrumentation, analysis techniques and state-of-the-art advances in semiconducting materials science for solid state physicists, chemists, and materials scientists



فهرست مطالب

Content: High resolution microscopy and microanalysis
self-organized and quantum domain structures
epitaxy - growth phenomena
epitaxy - wind band-gap nitrides
processed silicon, substrates and dielectrics
metalization
silicides amd contacts
device studies and specimen preparation
scanning probe microscopy
advanced scanning electron and optical microscopy.




نظرات کاربران