دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Hutchison. J. L., Cullis. Anthony G سری: Institute of Physics conference series 169 ISBN (شابک) : 0750308184, 9780750308182 ناشر: Institute of Physics Publishing;CRC Press سال نشر: 2001 تعداد صفحات: 627 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 163 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Microscopy of semiconducting materials 2001 : proceedings of the Royal Microscopical Society conference, Oxford University, 25-29 March 2001 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپی مواد نیمه هادی 2001: مجموعه مقالات کنفرانس انجمن سلطنتی میکروسکوپی، دانشگاه آکسفورد، 25-29 مارس 2001 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
مجموعه کنفرانسهای موسسه فیزیک یک رسانه بینالمللی پیشرو برای
انتشار سریع مقالات کنفرانسها و سمپوزیومهای بزرگ است که تحولات
جدید در فیزیک و حوزههای مرتبط را بررسی میکند. جلدهای این
مجموعه شامل مقالات داوری اصلی است و به عنوان آثار داوری
استاندارد در نظر گرفته می شود. به این ترتیب، آنها بخش مهمی از
مجموعه های کتابخانه های بزرگ در سراسر جهان هستند.
دوازدهمین کنفرانس در مورد میکروسکوپ مواد نیمه هادی (MSM) در
دانشگاه آکسفورد، 25-29 مارس 2001 برگزار شد. کنفرانس های MSM بر
روی پیشرفت های بین المللی اخیر در مطالعات نیمه هادی انجام شده
توسط همه اشکال میکروسکوپ. این رویداد با حمایت علمی توسط انجمن
سلطنتی میکروسکوپی، گروه میکروسکوپ الکترونی و تجزیه و تحلیل
مؤسسه فیزیک و انجمن تحقیقات مواد سازماندهی شد.
با کوچک شدن مداوم ابعاد دستگاه الکترونیکی و همراه با افزایش
عملکرد دستگاه درک خواص میکروسکوپی نیمه هادی در مقیاس نانو (و
حتی در مقیاس اتمی) به طور فزاینده ای برای پیشرفت بیشتر ضروری
است. مجموعه مقالات این کنفرانس مروری بر آخرین ابزار دقیق،
تکنیکهای آنالیز و پیشرفتهای پیشرفته در علم مواد نیمهرسانا
برای فیزیکدانان حالت جامد، شیمیدانان و دانشمندان مواد ارائه
میکند.
The Institute of Physics Conference Series is a leading
International medium for the rapid publication of proceedings
of major conferences and symposia reviewing new developments in
physics and related areas. Volumes in the series comprise
original refereed papers and are regarded as standard referee
works. As such, they are an essential part of major libration
collections worldwide.
The twelfth conference on the Microscopy of Semiconducting
Materials (MSM) was held at the University of Oxford, 25-29
March 2001. MSM conferences focus on recent international
advances in semiconductor studies carried out by all forms of
microscopy. The event was organized with scientific sponsorship
by the Royal Microscopical Society, The Electron Microscopy and
Analysis Group of the Institute of Physics and the Materials
Research Society.
With the continual shrinking of electronic device dimensions
and accompanying enhancement in device performance, the
understanding of semiconductor microscopic properties at the
nanoscale (and even at the atomic scale) is increasingly
critical for further progress to be achieved. This conference
proceedings provides an overview of the latest instrumentation,
analysis techniques and state-of-the-art advances in
semiconducting materials science for solid state physicists,
chemists, and materials scientists
Content: High resolution microscopy and microanalysis
self-organized and quantum domain structures
epitaxy - growth phenomena
epitaxy - wind band-gap nitrides
processed silicon, substrates and dielectrics
metalization
silicides amd contacts
device studies and specimen preparation
scanning probe microscopy
advanced scanning electron and optical microscopy.