Microelectronics Manufacturing Diagnostics Handbook

دنیای میکروالکترونیک مملو از سیستم‌های اندازه‌گیری cusses است که داستان‌های موفقیت زیادی را تولید می‌کنند. از استفاده از تکنیک های نیمه کنترلی، تست، تشخیص و تجزیه اوره شکست. در این مقاله روش‌هایی برای مدل‌سازی هادی‌ها برای رایانه‌های رومیزی قدرتمند برای استفاده از آن‌ها در حفظ بهینه موتور و کاهش عیوب، و برای جلوگیری از تغییر شکل در خودروهای مدرن، در وهله اول دارای عواقب هستند. رویکرد توصیف شده، به وضوح زندگی روزمره ما را بهبود بخشید. در عین حال که برای دنیای میکروالکترونیک تطبیق داده شده است، قابلیت استفاده از این فناوری فعال است، چگونه برای هر فرآیند تولیدی با پیچیدگی مشابه قابل استفاده است. نویسندگان تنها با پیشرفتی که در کاهش هزینه و بهبود قابلیت اطمینان آنها ایجاد شده است، تعدادی را تشکیل می دهند. یکی از بهترین ذهن‌های علمی در جهان، و کاهش عواقب در متخصصان این هنر تمرکز قابل توجهی دارد. دنیای تولید مودم اطلاعاتی و کیفیت بالا که در اینجا ثبت شده در کلاس جهانی است. من می دانم که تشخیص گام کلیدی در این فرآیند است. پیدا کردن مواد به عنوان یک مرجع عالی در شکست محصول را قادر می سازد مرحله تابع تجزیه و تحلیل برنامه شما. بهبود عملکرد و قابلیت اطمینان که برای کاهش هزینه و باز کردن برنامه‌ها و فن‌آوری‌های جدید Dr. Paul R. Low کار می‌کند. معاون IBM و این کتاب، روند نقص عضویت مدیر کل محصولات فناوری در دنیای میکروالکترونیک را شرح می‌دهد.

The world of microelectronics is filled with cusses measurement systems, manufacturing many success stories. From the use of semi­ control techniques, test, diagnostics, and fail­ ure analysis. It discusses methods for modeling conductors for powerful desktop computers to their use in maintaining optimum engine per­ and reducing defects, and for preventing de­ formance in modem automobiles, they have fects in the first place. The approach described, clearly improved our daily lives. The broad while geared to the microelectronics world, has useability of the technology is enabled, how­ applicability to any manufacturing process of similar complexity. The authors comprise some ever, only by the progress made in reducing their cost and improving their reliability. De­ of the best scientific minds in the world, and fect reduction receives a significant focus in our are practitioners of the art. The information modem manufacturing world, and high-quality captured here is world class. I know you will diagnostics is the key step in that process. find the material to be an excellent reference in of product failures enables step func­ Analysis your application. tion improvements in yield and reliability. which works to reduce cost and open up new Dr. Paul R. Low applications and technologies. IBM Vice President and This book describes the process ofdefect re­ of Technology Products General Manager duction in the microelectronics world.