ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed

دانلود کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed

مشخصات کتاب

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed

ویرایش: 5 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0871708043, 9780871708045 
ناشر: ASM International 
سال نشر: 2004 
تعداد صفحات: 812 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 62 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 40,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم: میکروالکترونیک تست مواد هندبوک راهنماها و غیره نقص دستگاه و لوازم الکترونیکی الکترونیک مهندسی فناوری مدارهای عمومی مجتمع



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم

یا تازه واردانی که برای غرق شدن یا شنا کردن به آب می‌روند و همچنین متخصصان باتجربه‌ای که می‌خواهند راهنمای معتبری در کنار میز باشند، این حجم سنگین نسخه قبلی (1999) را به‌روزرسانی می‌کند. این شامل کار مشارکت کنندگان متخصصی است که در پاسخ به درخواست کمیته برای کمک به این کار تجمع کردند (کمیته توسط Electron به به روز رسانی اختصاص داده شد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

or newcomers cast into the waters to sink or swim as well as seasoned professionals who want authoritative guidance desk-side, this hefty volume updates the previous (1999) edition. It contains the work of expert contributors who rallied to the job in response to a committee's call for help (the committee was assigned to the update by the Electron



فهرست مطالب

Content: Introduction --
Failure analysis process flow --
Failure verification --
Failure mode: failure classifications --
Special devices --
Non-destructive analysis techniques --
Depackaging --
Photon emission (electroluminescence) localization techniques --
Microthermography --
Laser and particle beam-based localization techniques --
Deprocessing --
General imaging techniques --
Local deprocessing and imaging --
Materials analysis techniques --
Important topics for semiconductor devices --
FA techniques/tools roadmaps --
FA operation and management --
Appendix.




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی