Mechanical Properties of Structural Films

دسته بندی: مکانیک: مکانیک اجسام تغییر شکل پذیر
ویرایش:  
نویسندگان: Muhlstein Christofer L.,  Brown Stuart B. (eds.)  
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر:  
تعداد صفحات: 333 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 45,000

انتشارات فنی ویژه ASTM، 2001. — 333 p. فیلم‌ها یا لایه‌هایی که روی بسترها اعمال می‌شوند اغلب برای کاربردهای الکترونیکی، تزئینی، مانع و سایش استفاده می‌شوند. علاوه بر این، فوتولیتوگرافی مورد استفاده در صنعت میکروالکترونیک منجر به توسعه قطعات مکانیکی در مقیاس میکرونی ساخته شده از لایه های نازک شده است. طبقه ای از مواد ساختاری که به عنوان فیلم تولید می شوند به عنوان "فیلم های ساختاری" نامیده می شوند. خواص مکانیکی لایه های نازک به عنوان بخش مهمی از عملکرد مواد برای بیش از یک قرن شناخته شده است. با این حال، ظهور سیستم‌های میکروالکترومکانیکی و سایر کاربردهای لایه‌های ساختاری منجر به علاقه‌مندی مجدد به اندازه‌گیری و درک رفتار مکانیکی لایه‌های نازک شده است. مقالات این سمپوزیوم بین چهار حوزه اصلی شخصیت‌پردازی فیلم‌های ساختاری توزیع می‌شود. این سمپوزیوم که توسط گروهی بین‌المللی از کارشناسان شش کشور ارائه شده است، یکی از کامل‌ترین مجموعه مقالاتی است که تا به امروز در مورد خصوصیات مکانیکی فیلم‌های سازه‌ای موجود است. سمپوزیوم با جلساتی در مورد رفتار الاستیک، استرس باقیمانده و شکستگی و خستگی آغاز می شود. جلسات باقیمانده به تست کشش و آسیب ترمومکانیکی، سایش و تشعشع اختصاص دارد. در زمینه به سرعت در حال توسعه فیلم های ساختاری، این رویداد نقطه عطفی در مهندسی این سیستم های مواد و خصوصیات آنها است.

ASTM Special Technical Publication, 2001. — 333 p. Films or layers that are applied to substrates are frequently used for electronic, decorative, barrier, and wear applications. In addition, photolithography used by the microelectronics industry has led to the development of micron-scale mechanical components made from thin films. The class of structural materials that are manufactured as films is referred to as "structural films." The mechanical properties of thin films have been recognized as an important part of the performance of materials for over a century. However, the advent of microelectromechanical systems and other applications of structural films has led to a renewed interest in both the measurement and understanding of the mechanical behavior of thin films. The papers from this symposium are distributed among four major areas of structural films characterization. Presented by an international group of experts from six countries, this symposium is one of the most complete assemblies of papers on the characterization of the mechanical properties of structural films available to date. The symposium begins with sessions on elastic behavior, residual stress, and fracture and fatigue. The remaining sessions are dedicated to tensile testing and thermomechanical, wear, and radiation damage. In the rapidly developing field of structural films, this event is a milestone in the engineering of these materials systems and their characterization.