ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Measurements of In-Plane Material Properties with Scanning Probe Microscopy

دانلود کتاب اندازه گیری خواص مواد درون صفحه با میکروسکوپ پروب روبشی

Measurements of In-Plane Material Properties with Scanning Probe Microscopy

مشخصات کتاب

Measurements of In-Plane Material Properties with Scanning Probe Microscopy

ویرایش:  
نویسندگان: ,   
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر: 2004 
تعداد صفحات: 6 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 950 کیلوبایت 

قیمت کتاب (تومان) : 36,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب Measurements of In-Plane Material Properties with Scanning Probe Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اندازه گیری خواص مواد درون صفحه با میکروسکوپ پروب روبشی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب اندازه گیری خواص مواد درون صفحه با میکروسکوپ پروب روبشی

میکروسکوپ پروب روبشی (SPM) در ابتدا به عنوان روشی برای اندازه گیری توپوگرافی سطح در مقیاس اتمی تصور شد. در طول دو دهه گذشته، به مجموعه‌ای از تکنیک‌ها شکوفا شده است که می‌توان از آنها برای به دست آوردن اطلاعات متنوعی درباره خواص مواد در مقیاس نانو استفاده کرد. به استثنای اندازه‌گیری‌های اصطکاک، این تکنیک‌ها به‌طور سنتی به فعل و انفعالات نوک-نمونه‌ای که عادی به سطح نمونه هدایت می‌شوند، بستگی دارند. اخیراً، محققان چندین اثر ناشی از فعل و انفعالات موازی با سطوح را، معمولاً با اعمال عمدی یک جابجایی جانبی مدوله‌شده، بررسی کرده‌اند. در واقع، برخی از حرکت های موازی در SPM مبتنی بر کنسول، به دلیل کج بودن کنسول، همه جا وجود دارد. مطالعات اخیر، که در حالت‌های تماسی، غیرتماسی، و تماس متناوب انجام شده است، بینش جدیدی را در مورد ویژگی‌هایی مانند ناهمسانگردی ساختاری، برهمکنش‌های جانبی با ویژگی‌های سطحی، تنش برشی در مقیاس نانو و مکانیک تماس، و اتلاف انرژی در صفحه ارائه می‌کند. درک به دست آمده از تفسیر این رفتار پیامدهایی برای همه میکروسکوپ‌های پروب روبشی مبتنی بر کنسول دارد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Scanning probe microscopy (SPM) was originally conceived as a method for measuringatomic-scale surface topography. Over the last two decades, it has blossomed into anarray of techniques that can be used to obtain a rich variety of information aboutnanoscale material properties. With the exception of friction measurements, thesetechniques have traditionally depended on tip-sample interactions directed normal tothe sample's surface. Recently, researchers have explored several effects arising frominteractions parallel to surfaces, usually by deliberately applying a modulated lateraldisplacement. In fact, some parallel motion is ubiquitous to cantilever-based SPM, due tothe tilt of the cantilever. Recent studies, performed in contact, noncontact, andintermittent-contact modes, provide new insights into properties such as structuralanisotropy, lateral interactions with surface features, nanoscale shear stress and contactmechanics, and in-plane energy dissipation. The understanding gained from interpretingthis behavior has consequences for all cantilever-based scanning probe microscopies.





نظرات کاربران