دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Dr. Otwin Breitenstein, Dr. Martin Langenkamp (auth.) سری: Springer Series in Advanced Microelectronics 10 ISBN (شابک) : 9783642077852, 9783662083963 ناشر: Springer Berlin Heidelberg سال نشر: 2003 تعداد صفحات: 197 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 7 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب ترموگرافی قفل شده: اصول و کاربرد برای تشخیص عملکردی قطعات الکترونیکی: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، علوم اندازه گیری و ابزار دقیق، مواد نوری و الکترونیک، نانوتکنولوژی، مهندسی، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ترموگرافی قفل شده: اصول و کاربرد برای تشخیص عملکردی قطعات الکترونیکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب با ترموگرافی قفل شده به عنوان یک نوع خاص از ترموگرافی IR شناخته شده برای همه کاربردهایی که گرمای نمونه را می توان پالس کرد، سروکار دارد. در مقایسه با ترموگرافی حالت پایدار، حالت قفل نسبت سیگنال/نویز بسیار بهبود یافته (تا 1000x) را با میانگین گیری سیگنال، وضوح جانبی بسیار بهتری امکان پذیر می کند و ممکن است تصحیح ذاتی انتشار را ارائه دهد. بنابراین، جایگزین تجزیه و تحلیل شکست حرارتی می شود که قبلا با استفاده از میکروسکوپ IR معمولی، تصویربرداری کریستال مایع، یا تصویربرداری میکروترمال فلورسنت انجام شده بود. رویکردهای تجربی مختلف برای ترموگرافی قفل شده با تاکید ویژه بر سیستمهای توسعهیافته توسط خود نویسندگان بررسی میشوند. بنابراین، این کتاب مقدمه ای مفید برای این تکنیک و راهنمای مفیدی برای دانشمندان و مهندسین شاغل در تجزیه و تحلیل خرابی دستگاه های الکترونیکی ارائه می دهد. این با یک درمان نظری دقیق از انتشار امواج حرارتی، که به عنوان پایه ای برای کاربردهای مختلف، به عنوان مثال، مدارهای مجتمع، ساختارهای MOS، سلول های خورشیدی و ماژول های خورشیدی ارائه می شود، به پایان می رسد.
The book deals with lock-in thermography as a special variant of the well known IR thermography for all applications where the heat of the sample can be pulsed. Compared to steady-state thermography, the lock-in mode enables a much improved signal/noise ratio (up to 1000x) by signal averaging, a far better lateral resolution, and it may provide inherent emissivity correction. Thus, it replaces thermal failure analysis previously carried out by using conventional IR microscopy, liquid crystal imaging, or fluorescent microthermal imaging. Various experimental approaches to lock-in thermography are reviewed with special emphasis on the systems developed by the authors themselves. Thus, the book provides a useful introduction to this technique and a helpful guide for scientists and engineers working in electronic device failure analysis. It concludes with a detailed theoretical treatment of the propagation of thermal waves, which is presented as a basis for various applications, e.g., integrated circuits, MOS structures, solar cells and solar modules.
Front Matter....Pages I-VIII
Introduction....Pages 1-5
Physical and Technical Basics....Pages 7-38
Experimental Technique....Pages 39-67
Theory....Pages 69-114
Measurement Strategies....Pages 115-141
Typical Applications....Pages 143-168
Summary and Outlook....Pages 169-172
Back Matter....Pages 173-194