Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

این کتاب به ترموگرافی قفل شده (LIT) به عنوان یک نوع دینامیکی فعال خاص از ترموگرافی معروف IR می پردازد. نسبت سیگنال به نویز بسیار بهبود یافته (تا 1000x) و وضوح جانبی بسیار بهتر در مقایسه با ترموگرافی حالت پایدار را امکان پذیر می کند. این کتاب بر کاربردهای دستگاه‌ها و مواد الکترونیکی متمرکز است، اما فصل‌های اصلی برای ارزیابی غیر مخرب نیز مفید هستند. رویکردهای تجربی مختلف به LIT با تاکید ویژه بر سیستم‌های مختلف تجاری LIT موجود بررسی می‌شوند. برنامه های کاربردی جدید LIT، مانند LIT روشن که برای سلول های خورشیدی اعمال می شود، و نقشه برداری طول عمر LIT غیر حرارتی، بررسی می شوند. مطالعات موردی تحقیق LIT معمولی معرفی شده است.

This book deals with lock-in thermography (LIT) as a special active dynamic variant of the well-known IR thermography. It enables a much improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. The book concentrates on applications to electronic devices and materials, but the basic chapters are useful as well for non-destructive evaluation. Various experimental approaches to LIT are reviewed with special emphasis to different available commercial LIT systems. New LIT applications are reviewed, like Illuminated LIT applied to solar cells , and non-thermal LIT lifetime mapping. Typical LIT investigation case studies are introduced.