Latchup in CMOS Technology: The Problem and Its Cure

چرا یک کتاب در مورد Iatchup؟ Latchup یک نگرانی بالقوه جدی در مورد قابلیت اطمینان CMOS بوده و هست. این نگرانی با صعود CMOS به عنوان فن‌آوری غالب VLSI گسترده‌تر می‌شود، به‌ویژه از آنجایی که ویژگی‌های دوقطبی انگلی در ابعاد کوچک‌تر روی ویفرهای سیلیکونی با تراکم نقص هر چه کمتر بهبود می‌یابند. اگرچه بسیاری از قطعات موفق به بازار عرضه شده‌اند، راه‌حل‌های لچ‌آپ اغلب موقتی بوده‌اند. اگرچه تکنیک‌های اجتناب از لچ‌آپ قبلاً مشخص شده‌اند، ارزیابی کمی از اصلاحات قبلی لچ‌اپ انجام نشده است. آنچه مورد نیاز است درمان کلی تر و سیستماتیک تر مشکل لچاپ است. به دلیل تنوع گسترده فناوری‌های CMOS و علاقه طولانی‌مدت به لچ‌آپ، برخی اصول راهنمای کلی مورد نیاز است. قدردانی از تنوع مکانیسم های محرک ممکن برای درک واقعی لچاپ کلیدی است. این کار به بررسی منشأ هر یک و تأثیر آن بر ساختار انگلی می پردازد. هر مکانیسم تحریک بر اساس طبقه بندی جدید طبقه بندی می شود.

Why a book on Iatchup? Latchup has been, and continues to be, a potentially serious CMOS reliability concern. This concern is becoming more widespread with the ascendency of CMOS as the dominant VLSI technology, particularly as parasitic bipolar characteristics continue to improve at ever smaller dimensions on silicon wafers with ever lower defect densities. Although many successful parts have been marketed, latchup solutions have often been ad hoc. Although latchup avoidance techniques have been previously itemized, there has been little quantitative evaluation of prior latchup fixes. What is needed is a more general, more systematic treatment of the latchup problem. Because of the wide variety of CMOS technologies and the long term interest in latchup, some overall guiding principles are needed. Appreciating the variety of possible triggering mechanisms is key to a real understanding of latchup. This work reviews the origin of each and its effect on the parasitic structure. Each triggering mechanism is classified according to a new taxonomy.