دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب ISTFA 2002 : proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz
دانلود کتاب ISTFA 2002: دوره های بیست و هشتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل عدم موفقیت: 3-7 نوامبر 2002 ، مرکز مدنی ققنوس ، ققنوس ، آریزاز
مشخصات کتاب
ISTFA 2002 : proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz
ویرایش: Bk&CD-Rom نویسندگان: ASM International., Electronic Device Failure Analysis Society سری: ISBN (شابک) : 0871707713, 9780871707710 ناشر: ASM International سال نشر: 2002 تعداد صفحات: 713 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 143 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 50,000
در صورت تبدیل فایل کتاب ISTFA 2002 : proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ISTFA 2002: دوره های بیست و هشتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل عدم موفقیت: 3-7 نوامبر 2002 ، مرکز مدنی ققنوس ، ققنوس ، آریزاز نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب ISTFA 2002: دوره های بیست و هشتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل عدم موفقیت: 3-7 نوامبر 2002 ، مرکز مدنی ققنوس ، ققنوس ، آریزاز
مجموعه مقالات بیست و هشتمین سمپوزیوم بین المللی برای آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست، 3-7 نوامبر 2002، فینیکس، آریزونا. این جلد جلسات، پوشش عمیقی از آخرین پیشرفت‌ها و پیشرفته‌ترین تکنیک‌ها برای تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک ارائه می‌کند. CD-ROM محتوای کامل کتاب را با فرمت Adobe Acrobat PDF قابل جستجو ارائه می دهد. محتویات: تکنیک های تجزیه و تحلیل شکست میکروالکترونیک پیشرفته مترولوژی و تجزیه و تحلیل مواد بسته تجزیه و تحلیل سطح سیستم های میکروالکترومکانیکی نمونه آماده سازی فرآیندهای تجزیه و تحلیل شکست سیستم تجزیه و تحلیل سطح سیستم تجزیه و تحلیل سطح سطح قالب جداسازی خطا گسسته/غیرفعال اسکن کاوشگر آزمایشی Microelectrome. (+ مالیات بر ارزش افزوده)
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 3-7 November 2002, Phoenix, Arizona. This proceedings volume presents in-depth coverage of the latest developments and the most advanced techniques for microelectronics failure analysis. The CD-ROM provides the complete content of the book in searchable Adobe Acrobat PDF format. Contents: Advanced Microelectronic Failure Analysis Techniques Metrology and Materials Analysis Package Level Analysis Microelectromechanical Systems Sample Preparation Failure Analysis Processes System Level Analysis Die Level Fault Isolation Discretes/Passives Scanning Probe Microscopy Techniques Test Analysis Optical Probing Yield Enhancement. (+ VAT)
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Identifying and Estimating the Genetic Impact of Chemical Mutagens
دانلود کتاب Inner-Shell and X-Ray Physics of Atoms and Solids
دانلود کتاب Cornerstones of managerial accounting
