دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب ISTFA 2000 : proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington
دانلود کتاب ISTFA 2000: رسیدگی به بیست و ششمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل نارسایی ها ، 12-16 نوامبر 2000 ، مرکز همایش میدنباور ، بللو ، واشنگتن
مشخصات کتاب
ISTFA 2000 : proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington
ویرایش: سری: ISBN (شابک) : 0871707012, 9780871707017 ناشر: ASM International سال نشر: 2000 تعداد صفحات: 515 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 45 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 43,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب ISTFA 2000: رسیدگی به بیست و ششمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل نارسایی ها ، 12-16 نوامبر 2000 ، مرکز همایش میدنباور ، بللو ، واشنگتن: الکترونیک -- مواد -- آزمایش -- کنگره ها. دستگاه ها و لوازم الکترونیکی -- آزمایش -- کنگره ها. دستگاه ها و لوازم الکترونیکی -- تست الکترونیک -- مواد -- آزمایش
در صورت تبدیل فایل کتاب ISTFA 2000 : proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ISTFA 2000: رسیدگی به بیست و ششمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل نارسایی ها ، 12-16 نوامبر 2000 ، مرکز همایش میدنباور ، بللو ، واشنگتن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب ISTFA 2000: رسیدگی به بیست و ششمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل نارسایی ها ، 12-16 نوامبر 2000 ، مرکز همایش میدنباور ، بللو ، واشنگتن
مجموعه مقالات سمپوزیوم بین المللی 2000 برای آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست، که در 12 تا 16 نوامبر 2000 در مرکز کنوانسیون Meydenbauer، Belvue، واشنگتن برگزار شد. این اقدامات، پوشش عمیقی از آخرین پیشرفت‌ها و پیشرفته‌ترین تکنیک‌ها برای آزمایش و تجزیه و تحلیل خرابی قطعات میکروالکترونیکی ارائه می‌کند. این کتاب طیف کاملی از مباحث تجزیه و تحلیل شکست را پوشش می دهد، اما با تاکید ویژه بر تحلیل شکست پشت (فلیپ چیپ) و تشخیص خرابی ریزتراشه های پیشرفته، با تجزیه و تحلیل سیلیکون. مطالب: تکنیک های پیشرفته; بسته بندی؛ تست و افزایش بازده؛ تجزیه و تحلیل پشت. تکنیک های جدید؛ سوابق موردی؛ تجزیه و تحلیل پرتو یون متمرکز. تجزیه و تحلیل میکروسکوپی پروب اسکن. فرمت فایل PDF CD-ROMA با استفاده از Adobe Acrobat Reader 4.0 یا بالاتر قابل دسترسی است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Proceedings of the 2000 International Symposium for Testing and Failure Analysis, held 12th-16th November, 2000, at Meydenbauer Convention Center, Belvue, Washington. These proceedings present in-depth coverage of the latest developments and the most advanced techniques for testing and failure analysis of microelectronic components. The book covers the full spectrum of failure analysis topics, but with special emphasis on backside (flipchip) failure analysis and the diagnosis of high-end microchip failures, by analyzing the silicon. Contents: Advanced Techniques; Packaging; Testing and Yield Enhancement; Backside Analysis; New Techniques; Case Histories; Focused Ion Beam Analysis; Scanning Probe Microscopy Analysis. The CD-ROMAs PDF-file format can be accessed using Adobe Acrobat Reader 4.0 or higher
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Media Computing: Computational Media Aesthetics
دانلود کتاب Demonstrating Your Clinical Competence in Cardiovascular and Neurological Conditions
دانلود کتاب Deciphering the Lost Symbol: Freemasons, Myths and the Mysteries of Washington, D.C.
دانلود کتاب The Equal Society: Essays on Equality in Theory and Practice
