ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Ion Implantation in Semiconductors: Proceedings of the II. International Conference on Ion Implantation in Semiconductors, Physics and Technology, Fundamental and Applied Aspects May 24–28, 1971, Garmisch-Partenkirchen, Bavaria, Germany

دانلود کتاب کاشت یون در نیمه هادی ها: مجموعه مقالات II. کنفرانس بین المللی کاشت یون در نیمه هادی ها، فیزیک و فناوری، جنبه های اساسی و کاربردی 24-28 می 1971، گارمیش-پارتنکرخن، باواریا، آلمان

Ion Implantation in Semiconductors: Proceedings of the II. International Conference on Ion Implantation in Semiconductors, Physics and Technology, Fundamental and Applied Aspects May 24–28, 1971, Garmisch-Partenkirchen, Bavaria, Germany

مشخصات کتاب

Ion Implantation in Semiconductors: Proceedings of the II. International Conference on Ion Implantation in Semiconductors, Physics and Technology, Fundamental and Applied Aspects May 24–28, 1971, Garmisch-Partenkirchen, Bavaria, Germany

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9783642806629, 9783642806605 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 1971 
تعداد صفحات: 518 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 38,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب کاشت یون در نیمه هادی ها: مجموعه مقالات II. کنفرانس بین المللی کاشت یون در نیمه هادی ها، فیزیک و فناوری، جنبه های اساسی و کاربردی 24-28 می 1971، گارمیش-پارتنکرخن، باواریا، آلمان: نیمه هادی ها، پزشکی/بهداشت عمومی، عمومی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب Ion Implantation in Semiconductors: Proceedings of the II. International Conference on Ion Implantation in Semiconductors, Physics and Technology, Fundamental and Applied Aspects May 24–28, 1971, Garmisch-Partenkirchen, Bavaria, Germany به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب کاشت یون در نیمه هادی ها: مجموعه مقالات II. کنفرانس بین المللی کاشت یون در نیمه هادی ها، فیزیک و فناوری، جنبه های اساسی و کاربردی 24-28 می 1971، گارمیش-پارتنکرخن، باواریا، آلمان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب کاشت یون در نیمه هادی ها: مجموعه مقالات II. کنفرانس بین المللی کاشت یون در نیمه هادی ها، فیزیک و فناوری، جنبه های اساسی و کاربردی 24-28 می 1971، گارمیش-پارتنکرخن، باواریا، آلمان



در سال‌های اخیر پیشرفت‌های زیادی در زمینه کاشت یون به‌ویژه با توجه به کاربرد در نیمه‌رساناها صورت گرفته است. غیرممکن است که به علاقه روزافزون در این زمینه، هم توسط گروه های تحقیقاتی و هم از سوی آنهایی که مستقیماً با تولید دستگاه ها مرتبط هستند، توجه نکنیم. علاوه بر این، همانطور که چندین مقاله اشاره کرده‌اند، کاشت یون و فناوری‌های مرتبط با آن، پیشرفت‌های هیجان‌انگیزی را در توسعه انواع جدید دستگاه‌ها نوید می‌دهند و ابزارهای جدید و قدرتمندی را برای بررسی مواد ارائه می‌دهند. بنابراین، مناسب بود که II ترتیب داده شود. کنفرانس بین المللی کاشت یون در نیمه هادی ها در مدت زمان نسبتاً کوتاه یک ساله از اولین کنفرانس در سال 1970 در Thousand Oaks، کالیفرنیا برگزار شد. اگرچه در ابتدا در مقیاس کوچک با تعداد بسیار محدودی از شرکت کنندگان برنامه ریزی شده بود، بیش از دویست دانشمند از 15 کشور در کنفرانسی شرکت کردند که در 24 تا 28 مه 1971 در مرکز کنگره در گارمیش-پارتنکیرشن برگزار شد. این جلد شامل مقالاتی است که در کنفرانس ارائه شده است. با توجه به حجم عظیم تحقیقات ارائه شده، انتشار تمام آثار در اینجا با جزئیات کامل امکان پذیر نبود. بنابراین، بسیاری از نویسندگان با کمال میل موافقت کردند که نسخه های کوتاه شده مقالات خود را ارسال کنند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

In recent years great progress has been made in the field of ion implantation, particularly with respect to applications in semiconductors. It would be impos­ sible not to note the growing interest in this field, both by research groups and those directly concerned with production of devices. Furthermore, as several papers have pointed out, ion implantation and its associated technologies promise exciting advances in the development of new kinds of devices and provide power­ ful new tools for materials investigations. It was, therefore, appropriate to arrange the II. International Conference on Ion Implantation in Semiconductors within the rather short time of one year since the first conference was held in 1970 in Thousand Oaks, California. Although ori­ ginally planned on a small scale with a very limited number of participants, more than two hundred scientists from 15 countries participated in the Conference which was held May 24 - 28, 1971 at the Congress Center in Garmisch-Partenkirchen. This volume contains the papers that were presented at the Conference. Due to the tremendous volume of research presented, publication here of all the works in full detail was not possible. Many authors therefore graciously agreed to submit abbreviated versions of their papers.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xiii
Ionization and Thermal Dependences of Implantation Disorder in Silicon....Pages 1-1
Localized Mode of Substitutional Carbon in Ion-Implanted Silicon....Pages 2-6
Inventory of Paramagnetic Defects in Ion-Implanted Silicon....Pages 7-7
Structural Differences in Light and Heavy Ion Disorder in Si Studied by Single and Double Alignment Channeling Techniques....Pages 8-16
Investigation of Ion Implantation Damage with Stress Measurements....Pages 17-22
Energy Levels of Defects in Ion Implanted Silicon....Pages 23-32
Photoconductivity of Boron Implanted Silicon....Pages 33-38
Electron Paramagnetic Resonance on Divacancies in Phosphorus-Implanted Silicon....Pages 39-46
Distribution of Boron Implanted Silicon....Pages 47-57
Phosphorus Channeled in Silicon: Profiles and Electrical Activity....Pages 58-69
Enhanced Annealing Effects of Boron Implanted Layers in Silicon by Post-Implantation of Silicon Ions....Pages 70-78
Electrical Profiles of Ion Implanted Silicon and their Comparison with Defect Structures....Pages 79-84
A New Method for Boron Doping of Silicon by Implantation of BF 2 -Molecules....Pages 85-95
Crystal Defects and Electrical Properties in Ion-Implanted Silicon....Pages 96-102
Amorphization of Silicon Crystals Bombarded by 30 keV Phosphorus Ions at Different Temperatures....Pages 103-109
Additional Ion Bombardment of Well Annealed Silicon Crystals Implanted with Phosphorus and Arsenic....Pages 110-118
The Influence of Ion Beam Current Densities on the Electrical Properties of Boron Implanted Silicon....Pages 119-123
The Evaluation of Electrically Active Damage in Hot, Phosphorus Implantations in Silicon by Means of Hall-Effect Measurements....Pages 124-133
Backscattering Analysis and Electrical Behavior of SiC Implanted with 40 keV Indium....Pages 134-140
Anomalous Diffusion of Defects in Ion-Implanted GaAs....Pages 141-150
Enhanced Diffusion in Ion-Bombarded GaAs....Pages 151-156
The Effects of Dose Rate and Implantation Temperature on Lattice Damage and Electrical Activity in Ion-Implanted GaAs....Pages 157-167
The Effects of Arsenic Ion Implantation in GaAs....Pages 168-173
Implantation of Zinc into GaAs at 1 MeV....Pages 174-181
Implantation of Bi into GaP III. Hot-Implant Behavior....Pages 182-192
The Influence of Various Parameters on Radiation Damage in GaP....Pages 193-198
The Retention of Bi Ions Implanted in GaAs....Pages 199-204
The Annealing Behaviour of Gallium Phosphide in the Region 110–500°K after 300 keV Neon Irradiation....Pages 205-211
Compensation of N-Type GaAs by Proton Bombardment....Pages 212-221
Ion Implanted p-n Junctions in GaAs 0.6 P 0.4 ....Pages 222-227
Lattice Disorder and Outdiffusion in Ion Implanted InSb and CdTe....Pages 228-234
Ion-Implantation of Nitrogen into n-Type Cadmium Sulfide....Pages 235-240
Infrared Studies of SiC, Si 3 N 4 , and SiO 2 Formation in Ion-Implanted Silicon....Pages 241-247
Ion Implantation and Amorphous Materials....Pages 248-254
Raman Spectra of Amorphous Semiconductors Prepared by Ion Bombardment....Pages 255-261
Effects of Implantation on Thin Layers of Aluminium Metallization on Silicon....Pages 262-266
Crystalline to Amorphous Transformation in Ion-Bombarded Silicon....Pages 267-273
Analysis of Contact Formation and Surface Layers on Semiconductors....Pages 274-286
New Aspects of Atom Location: Flux Peaking....Pages 287-296
Dimpling — a New Manifestation of Ion Produced Lattice Damage....Pages 297-298
The Use of Ion-Induced X-Rays to Investigate the Concentration Distribution and Atom Location of Boron-Implanted Silicon....Pages 299-306
Electrical Properties of Ion Implanted Germanium....Pages 307-314
Recent Advances in Ion Implanted MOS Technology....Pages 315-328
Recent Advances in Ion Implanted Junction-Device Technology....Pages 329-334
Enhanced Diffusion of Substrate Impurities into Epitaxial Layers in Si by Proton Irradiation....Pages 335-339
Junction Field Effect Transistors Fabricated by Ion Implantation....Pages 340-344
Microwave Transistors Fabricated by Ion-Implantation Selection of Doping Impurities and Prototype Realization....Pages 345-350
Application of Ion Implantation to N-P-N-Transistors....Pages 351-356
New Techniques for Improving High Value Ion Implanted Resistors....Pages 357-361
Piezoresistive Properties of Ion Implanted Layers in Silicon....Pages 362-372
Surface States Induced by Ion Implantation....Pages 373-382
Speed Improvement of Ion Implanted Self Aligned Gate MOS Transistors....Pages 383-388
Chemical and Electrical Behaviour of Ion Implanted SiO 2 Films....Pages 389-396
Ion Implanted Thermoresistive Device for Cryogenic Temperatures....Pages 397-403
Ion Implanted Light Sensing Diodes....Pages 404-409
The Application of Ion Implantation to Avalanche Multiplication Devices....Pages 410-413
Ion Implanted p-n Junctions in Near Intrinsic n-Type Silicon for Nuclear Particle Detectors....Pages 414-419
Boron Implanted Contacts on High Purity Germanium....Pages 420-429
New Ion Implantation Areas....Pages 430-438
Non-Gaussian Implantation Profiles....Pages 439-454
Atom Location in the Case of Enhanced Diffusion Measured by Backscattering Method....Pages 455-458
Enhanced Diffusion and Electrical Properties of Ion Implanted Silicon....Pages 459-465
The Presence of Deep Levels in Silicon Implanted with Channeled Low Energy Phosphorus Ions....Pages 466-472
Mobility, Resistivity and Carrier Concentration Measured on Silicon Implanted with Channeled and Nonchanneled Indium Ions....Pages 473-484
Ionization Energy Determination in Indium Implanted Silicon....Pages 485-488
Some Observations on High Energy Nitrogen Implantations in Silicon....Pages 489-494
Nitrogen Implantation of p-Silicon at Cryogenic Temperatures....Pages 495-498
Conductive Properties of the Ion Implanted Binary System Si 1−X Al X ....Pages 499-506




نظرات کاربران