دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: E. Bauer (auth.), Pratibha L. Gai (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9780792399896, 9781461562153 ناشر: Springer US سال نشر: 1997 تعداد صفحات: 345 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 15 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ درجا در تحقیقات مواد: پیشرو در تحقیقات بین المللی در میکروسکوپهای پروب الکترونی و اسکن: خصوصیات و ارزیابی مواد، شیمی تجزیه، ساختار و طیف اتمی/مولکولی، مواد نوری و الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب In-Situ Microscopy in Materials Research: Leading International Research in Electron and Scanning Probe Microscopies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ درجا در تحقیقات مواد: پیشرو در تحقیقات بین المللی در میکروسکوپهای پروب الکترونی و اسکن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
2. سیستم UHV-STM دمای بالا 264 3. فرآیند دفع هیدروژن در Si (111) سطح 264 4. (7x7) - (1 xl) انتقال فاز در Si (111) سطح 271 مرحله جابجایی تحت میدان های الکتریکی dc 275 نتیجه گیری 5. 6. 280 اذعان و منابع 281 12. مشاهده پویا از گردابها در ابررسانا با استفاده از امواج الکترونی 283 توسط Akira Tonomura 1. مقدمه 283 2. روش تجربی 284 2. 1 میکروسکوپ تداخل 284 2. 2 میکروسکوپ لورنتز 287 مشاهده گردابهای ابررسانی 288 3. 3. 1 گرداب ابررسانا مشاهده شده توسط میکروسکوپ تداخلی 288 3. 1. 1 حالت نمایه 288 3. 1. 2 حالت انتقال 291 3. 2 گرداب ابررسانا مشاهده شده توسط میکروسکوپ لورنتس 293 3. 3 مشاهده متقابل با مرکز پینینگ 3.3.39. مراحل سطحی 295 3. 3. 2 نقص نقطه تابیده شده 296 4. نتیجه گیری 298 مراجع 299 13. مطالعات TEM OF SOME Structurally FLEXIBLE SOLIDS AND THEIR ASSOCIATED PHASE T.Transformers. خروجی 301 2. ساختارهای چارچوب چهاروجهی متصل به Comer 302 3. چهار ضلعی a-PbO 311 4. فلوریت های دارای کمبود آنیونی انعطاف پذیر ترکیبی و "نقص فلوریت" به نوع C Sesquioxide. 327 فهرست نویسنده 331 فهرست موضوع 333 فهرست مشارکتکنندگان A. ASEEV موسسه فیزیک نیمهرساناها، آکادمی علوم روسیه نووسیبیرسک، 630090، pr. ac , Lavrentjeva 13, RUSSIA E. BAUER گروه فیزیک و نجوم, دانشگاه ایالتی آریزونا Tempe, AZ 85287-1504, U. S. A. G. H.
2. High Temperature UHV-STM System 264 3. Hydrogen Desorption Process on Si (111) Surface 264 4. (7x7) - (1 xl) Phase Transition on Si (111) Surface 271 Step Shifting under dc Electric Fields 275 5. 6. Conclusions 280 Acknowledgements and References 281 12. DYNAMIC OBSERVATION OF VORTICES IN SUPERCONDUCTORS USING ELECTRON WAVES 283 by Akira Tonomura 1. Introduction 283 2. Experimental Method 284 2. 1 Interference Microscopy 284 2. 2 Lorentz Microscopy 287 Observation of Superconducting Vortices 288 3. 3. 1 Superconducting Vortices Observed by Interference Microscopy 288 3. 1. 1 Profile Mode 288 3. 1. 2 Transmission Mode 291 3. 2 Superconducting Vortices Observed by Lorentz Microscopy 293 3. 3 Observation of Vortex Interaction with Pinning Centers 294 3. 3. 1 Surface Steps 295 3. 3. 2 Irradiated Point Defects 296 4. Conclusion 298 References 299 13. TEM STUDIES OF SOME STRUCTURALLY FLEXIBLE SOLIDS AND THEIR ASSOCIATED PHASE TRANSFORMATIONS 301 by Ray L. Withers and John G. Thompson 1. Introduction 301 2. Tetrahedrally Comer-Connected Framework Structures 302 3. Tetragonal a-PbO 311 4. Compositionally Flexible Anion-Deficient Fluorites and the "Defect Fluorite" to C-type Sesquioxide Transition 320 5. Summary and Conclusions 327 Acknowledgements and References 327 Author Index 331 Subject Index 333 List of Contributors A. ASEEV Institute of Semiconductor Physics, Russian Academy of Sciences Novosibirsk, 630090, pr. ac. , Lavrentjeva 13, RUSSIA E. BAUER Department of Physics and Astronomy, Arizona State University Tempe, AZ 85287-1504, U. S. A. G. H.
Front Matter....Pages i-xviii
In-situ Applications of Low Energy Electron Microscopy....Pages 1-12
Environmental Scanning Electron Microscopy....Pages 13-44
ESEM Development and Application in Cultural Heritage Conservation....Pages 45-62
Intrinsic Point Defect Clustering in Si: A Study by HVEM and HREM in Situ Electron Irradiation....Pages 63-92
In-Situ Observation and Quantitative Analysis of Electromigration Void Dynamics....Pages 93-122
Environmental High Resolution Electron Microscopy in Materials Science....Pages 123-147
In-Situ Transmission Electron Microscopy of Thin Film Growth....Pages 149-171
HREM In-Situ Experiment at Very High Temperatures....Pages 173-199
In-situ REM and TEM Studies of Homo and Hetero-epitaxy on Si Surfaces....Pages 201-224
Atomic-Scale Fabrication of Metal Surfaces by Using Adsorption and Chemical Reaction....Pages 225-261
High Temperature Dynamic Behavior of Silicon Surfaces Studied by STM....Pages 263-282
Dynamic Observation of Vortices in Superconductors Using Electron Waves....Pages 283-299
Tem Studies of Some Structurally Flexible Solids and Their Associated Phase Transformations....Pages 301-330
Back Matter....Pages 331-336