ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Impurity Doping Processes in Silicon

دانلود کتاب فرآیندهای دوپینگ ناخالصی در سیلیکون

Impurity Doping Processes in Silicon

مشخصات کتاب

Impurity Doping Processes in Silicon

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: Materials Processing: Theory and Practices 2 
ISBN (شابک) : 9780444860958 
ناشر: Elsevier Science Ltd 
سال نشر: 1981 
تعداد صفحات: 645 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 59 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 79,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 17


در صورت تبدیل فایل کتاب Impurity Doping Processes in Silicon به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب فرآیندهای دوپینگ ناخالصی در سیلیکون نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب فرآیندهای دوپینگ ناخالصی در سیلیکون

این کتاب چندین فرآیند مهم دوپینگ ناخالصی در سیلیکون را به افراد غیر متخصص معرفی می کند و در ادامه به روش های تعیین غلظت مواد ناخالص در سیلیکون می پردازد. روش مرسوم مورد استفاده فرآیند بحث است، اما از آنجایی که در بسیاری از متون به اندازه کافی پوشش داده شده است، این کار روش انتشار دوگانه را توصیف می کند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book introduces to non-experts several important processes of impurity doping in silicon and goes on to discuss the methods of determination of the concentration of dopants in silicon. The conventional method used is the discussion process, but, since it has been sufficiently covered in many texts, this work describes the double-diffusion method



فهرست مطالب

Content: 
Front Matter
Page iii

Copyright page
Page iv

Introduction to the Series
Page v
Franklin F.Y. WANG

Preface to Volume 2
Page vi
Franklin F.Y. WANG

Advisory Board
Page vii

CHAPTER 1 - Double-Diffusion Processes in Silicon
Pages 1-53
A.F.W. WILLOUGHBY

CHAPTER 2 - Ion Implantation Processes in Silicon
Pages 55-146
J.L. STONE, J.C. PLUNKETT

CHAPTER 3 - Source Feed Materials in Ion Beam Technology
Pages 147-174
A. AXMANN

CHAPTER 4 - Growth of Doped Silicon Layers by Molecular Beam Epitaxy
Pages 175-215
J.C. BEAN

CHAPTER 5 - Neutron Transmutation Doping of Silicon
Pages 217-257
BOBBIE D. STONE

CHAPTER 6 - Cvd Doping of Silicon
Pages 259-314
MCDONALD ROBINSON

CHAPTER 7 - Concentration Profiles of Diffused Dopants in Silicon
Pages 315-442
RICHARD B. FAIR

CHAPTER 8 - Impurity Profile of Implanted Ions in Silicon
Pages 443-638
H. MAES, W. VANDERVORST, R. VAN OVERSTRAETEN

Subject Index
Pages 639-643





نظرات کاربران