ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب IMAGING AND ELECTRON PHYSICSAberration–Corrected Electron Microscopy

دانلود کتاب تصویربرداری و فیزیک الکترونی میکروسکوپ الکترونی اصلاح شده توسط تصحیح

IMAGING AND ELECTRON PHYSICSAberration–Corrected Electron Microscopy

مشخصات کتاب

IMAGING AND ELECTRON PHYSICSAberration–Corrected Electron Microscopy

دسته بندی: علوم (عمومی)
ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: Advances in Imaging and Electron Physics 153 
ISBN (شابک) : 9780123742209 
ناشر: Elsevier, Academic Press 
سال نشر: 2008 
تعداد صفحات: 559 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 10 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 68,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 4


در صورت تبدیل فایل کتاب IMAGING AND ELECTRON PHYSICSAberration–Corrected Electron Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تصویربرداری و فیزیک الکترونی میکروسکوپ الکترونی اصلاح شده توسط تصحیح نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تصویربرداری و فیزیک الکترونی میکروسکوپ الکترونی اصلاح شده توسط تصحیح

اختراع میکروسکوپ الکترونی بیش از 70 سال پیش امکان تجسم دنیای جدیدی را فراهم کرد، بسیار کوچکتر از هر چیزی که با میکروسکوپ سنتی قابل مشاهده است. زیست‌شناس می‌تواند ویروس‌ها و اجزای سلول‌ها را مطالعه کند، دانشمند مواد می‌تواند ساختار فلزات و آلیاژها و بسیاری از مواد دیگر و به‌ویژه نقص‌های آنها را مطالعه کند. اما حتی میکروسکوپ الکترونی نیز محدودیت هایی داشت و ساختار اتمی واقعاً کوچکتر از آن بود که بتوان مستقیماً آن را مشاهده کرد. به اصطلاح "حد تفکیک" میکروسکوپ به خوبی درک شده بود، اما تلاش برای استفاده از اصلاح کننده های لازم تا اواخر دهه 1990 ناموفق بود. چنین تصحیح‌کننده‌هایی اکنون میکروسکوپ‌های بسیاری را در اروپا، ایالات متحده آمریکا و ژاپن تجهیز می‌کنند و نتایج بسیار چشمگیر هستند. علاوه بر این، میکروسکوپیست ها احساس می کنند که تنها در آغاز دوره جدیدی از تصویربرداری میکروسکوپی زیراتمی هستند. در جلد حاضر، ما مشارکت‌کنندگان اصلی، طراحان ابزار و میکروسکوپ‌ها را گرد هم آورده‌ایم تا این موضوع را عمیقاً مورد بحث قرار دهیم. * اولین کتاب با موضوع تصحیح کنندگان * مشارکت کنندگان شناخته شده از دانشگاه ها و سازندگان میکروسکوپ * نقطه شروع ایده آلی برای تهیه طرح های بودجه ارائه می دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The invention of the electron microscope more than 70 years ago made it possible to visualize a new world, far smaller than anything that could be seen with the traditional microscope. The biologist could study viruses and the components of cells, the materials scientist could study the structure of metals and alloys and many other substances, and especially their defects. But even the electron microscope had limits, and truly atomic structure was still too small to be observed directly. The so-called 'limit of resolution' of the microscope was well understood but attempts to use the necessary correctors were unsuccessful until the late 1990s. Such correctors now equip many microscopes in Europe, the USA and Japan and the results are extremely impressive. Moreover, microscopists feel that they are only at the beginning of a new era of subatomic microscopical imaging. In the present volume, we have brought together the principal contributors, instrument designers and microscopists to discuss this topic in depth. * First book on the subject of correctors * Well known contributors from academia and microscope manufacturers* Provides an ideal starting point for preparing funding proposals



فهرست مطالب

Content: 
Edited by
Page iii

Copyright
Page iv

Contributors
Pages xi-xii

Preface
Pages xiii-xv
Peter W. Hawkes

Future Contributions
Pages xvii-xix

Chapter 1 History of Direct Aberration Correction Original Research Article
Pages 3-39
Harald Rose

Chapter 2 Present and Future Hexapole Aberration Correctors for High-Resolution Electron Microscopy Original Research Article
Pages 43-119
Maximilian Haider, Heiko Müller, Stephan Uhlemann

Chapter 3 Advances in Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy and Electron Energy-Loss Spectroscopy Original Research Article
Pages 121-160
Ondrej L. Krivanek, Niklas Dellby, Robert J. Keyse, Matthew F. Murfitt, Christopher S. Own, Zoltan S. Szilagyi

Chapter 4 First Results Using the Nion Third-Order Scanning Transmission Electron Microscope Corrector Original Research Article
Pages 163-194
P.E. Batson

Chapter 5 Scanning Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy: Mapping Materials Atom by Atom Original Research Article
Pages 195-223
Andrew L. Bleloch

Chapter 6 Aberration Correction With the SACTEM-Toulouse: From Imaging to Diffraction Original Research Article
Pages 225-259
Florent Houdellier, Martin Hÿtch, Florian Hüe, Etienne Snoeck

Chapter 7 Novel Aberration Correction Concepts Original Research Article
Pages 261-281
Bernd Kabius, Harald Rose

Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy Original Research Article
Pages 283-325
Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Lan-Yun Chang, Sarah J. Haigh

Chapter 9 Materials Applications of Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy Original Research Article
Pages 327-384
S.J. Pennycook, M.F. Chisholm, A.R. Lupini, M. Varela, K. van Benthem, A.Y. Borisevich, M.P. Oxley, W. Luo, S.T. Pantelides

Chapter 10 Spherical Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy for Nanomaterials Original Research Article
Pages 385-437
Nobuo Tanaka

Chapter 11 Atomic-Resolution Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy Original Research Article
Pages 439-480
Knut Urban, Lothar Houben, Chun-Lin Jia, Markus Lentzen, Shao-Bo Mi, Andreas Thust, Karsten Tillmann

Chapter 12 Aberration-Corrected Electron Microscopes at Brookhaven Microscopes at Brookhaven National Laboratory Original Research Article
Pages 481-523
Yimei Zhu, Joe Wall

Contents of Volumes 151 and 152
Page 525

Index
Pages 527-538

Color Plate Section
Pages cp1-cp32





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد