دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Identification of Defects in Semiconductors
دانلود کتاب شناسایی عیوب در نیمه هادی ها
مشخصات کتاب
Identification of Defects in Semiconductors
ویرایش:
نویسندگان: Michael Stavola (Eds.)
سری: Semiconductors and Semimetals 51, Part A
ISBN (شابک) : 0127521593, 9780080864488
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1998
تعداد صفحات: 393
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 17 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 59,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Identification of Defects in Semiconductors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب شناسایی عیوب در نیمه هادی ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب شناسایی عیوب در نیمه هادی ها
از زمان آغاز به کار خود در سال 1966، مجموعه ای از مجلدات شماره دار معروف به نیمه هادی ها و نیمه فلزات از طریق انتخاب دقیق نویسندگان، ویراستاران و مشارکت کنندگان مشهور خود را متمایز کرده است. موفق به انتشار مجلدات و فصول شاخص متعددی شده است. بسیاری از این مجلدات نه تنها در زمان انتشارشان تأثیر گذاشتند، بلکه سال‌ها پس از انتشار اصلی‌شان همچنان مورد استناد قرار می‌گیرند. اخیراً، پروفسور Eicke R. Weber از دانشگاه کالیفرنیا در برکلی به عنوان یکی از سردبیران این مجموعه پیوست. پروفسور وبر، یک متخصص شناخته شده در زمینه مواد نیمه هادی، بیشتر به ادامه سنت مجموعه در انتشار به موقع، بسیار مرتبط و طولانی مدت کمک خواهد کرد. برخی از مجلدات اخیر، مانند هیدروژن در نیمه هادی ها، عیوب در مواد III/V، ریزساختارهای هم محور، دستگاه های ناهمساختار پرسرعت، اکسیژن در سیلیکون، و دیگران در واقع نوید می دهند که این سنت حفظ و حتی گسترش خواهد یافت. ماهیت رشته ای که این مجموعه پوشش می دهد، حجم های نیمه هادی ها و نیمه فلزات مورد توجه فیزیکدانان، شیمیدانان، دانشمندان مواد و مهندسان دستگاه در صنعت مدرن بوده و خواهد بود.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Since its inception in 1966, the series of numbered volumes known as Semiconductors and Semimetals has distinguished itself through the careful selection of well-known authors, editors, and contributors.The"Willardson and Beer"Series, as it is widely known, has succeeded in publishing numerous landmark volumes and chapters. Not only did many of these volumes make an impact at the time of their publication, but they continue to be well-cited years after their original release. Recently, Professor Eicke R. Weber of the University of California at Berkeley joined as a co-editor of the series. Professor Weber, a well-known expert in the field of semiconductor materials, will further contribute to continuing the series' tradition of publishing timely, highly relevant, and long-impacting volumes. Some of the recent volumes, such as Hydrogen in Semiconductors, Imperfections in III/V Materials, Epitaxial Microstructures, High-Speed Heterostructure Devices,Oxygen in Silicon, and others promise indeed that this tradition will be maintained and even expanded.Reflecting the truly interdisciplinary nature of the field that the series covers, the volumes in Semiconductors and Semimetals have been and will continue to be of great interest to physicists, chemists, materials scientists, and device engineers in modern industry.
فهرست مطالب
Content:
Edited by
Page iii
Copyright page
Page iv
Preface
Pages ix-xi
Michael Stavola
List of Contributors
Pages xiii-xiv
Chapter 1 EPR and ENDOR Studies of Defects in Semiconductors Original Research Article
Pages 1-43
George D. Watkins
Chapter 2 Magneto-Optical and Electrical Detection of Paramagnetic Resonance in Semiconductors Original Research Article
Pages 45-92
J.-M. Spaeth
Chapter 3 Magnetic Resonance of Epitaxial Layers Detected by Photoluminescence Original Research Article
Pages 93-136
T.A. Kennedy, E.R. Glaser
Chapter 4 μSR on Muonium in Semiconductors and Its Relation to Hydrogen Original Research Article
Pages 137-207
K.H. Chow, B. Hitti, R.F. Kiefl
Chapter 5 Positron Annihilation Spectroscopy of Defects in Semiconductors Original Research Article
Pages 209-285
Kimmo Saarinen, Pekka Hautojärvi, Catherine Corbel
Chapter 6 The Ab Initio Cluster Method and the Dynamics of Defects in Semiconductors Original Research Article
Pages 287-349
R. Jones, P.R. Briddon
Index
Pages 351-360
