IDDQ Testing of VLSI Circuits

نظارت بر جریان منبع تغذیه برای شناسایی نقص‌های CMOS IC در طول آزمایش تولید، ریشه‌های خود را در اواسط دهه 1970 بی‌سروصدا نشان داد. هر دو آزمایشگاه Sandia و RCA در ایالات متحده و آزمایشگاه فیلیپس در هلند این روش را روی آی سی های CMOS خود انجام دادند. در آن زمان، این عمل صرفاً از این حس شهودی ناشی می‌شد که IC‌های CMOS که جریان منبع تغذیه غیرعادی خاموش (I_DDQ) را نشان می‌دهند دارای نقص هستند. بعداً، این شهود توسط داده ها و تجزیه و تحلیل در دهه 1980 توسط Levi (RACD، Malaiya و Su (SUNY-Binghamton)، Soden و Hawkins (Sandia Labs و دانشگاه نیومکزیکو)، Jacomino و همکاران (Laboratoire d') پشتیبانی شد. Automatique de Grenoble)، و مالی و همکارانش (دانشگاه کارنگی ملون). علاقه به آزمایش I_DDQ فراتر از داده های گزارش شده در دهه 1980 پیشرفت کرده است و اکنون بر برنامه ها و ارزیابی هایی متمرکز شده است که شامل حجم بیشتری از آی سی هایی که کیفیت را فراتر از آنچه می توان با روش های معمول قبلی به دست آورد، بهبود می بخشد. در روش معمول آزمایش، سعی می شود حالت های منطقی گره های معلق به خروجی های اولیه منتشر شود. این کار برای همه یا بیشتر گره های مدار انجام می شود. برای مدارهای متوالی. به ویژه پیچیدگی یافتن تست های مناسب بسیار زیاد است.در مقایسه، تست I_DDQ حالات منطقی را رعایت نمی کند، بلکه جریان یکپارچه ای را که از تمامی گیت ها نشت می کند، اندازه گیری می کند. مانند اندازهورین است g درجه حرارت بیمار برای تعیین وضعیت سلامتی. علی‌رغم مزایای درک شده، در طول سال‌های پس از اعلام اولیه آن، تردید در مورد عملی بودن تست I_DDQ غالب شد. با این حال، این ایده فرصت بزرگی را در اختیار محققان قرار داد. نتایج جدیدی در مورد تولید آزمایش، شبیه‌سازی خطا، طراحی برای آزمایش‌پذیری، خودآزمایی داخلی و تشخیص برای این سبک از آزمایش گزارش شده است. پس از یک دهه تحقیق، قطعاً به تمرین نزدیک‌تر شده‌ایم.

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. Both Sandia Labs and RCA in the United States and Philips Labs in the Netherlands practiced this procedure on their CMOS ICs. At that time, this practice stemmed simply from an intuitive sense that CMOS ICs showing abnormal quiescent power supply current (I_DDQ) contained defects. Later, this intuition was supported by data and analysis in the 1980s by Levi (RACD, Malaiya and Su (SUNY-Binghamton), Soden and Hawkins (Sandia Labs and the University of New Mexico), Jacomino and co-workers (Laboratoire d'Automatique de Grenoble), and Maly and co-workers (Carnegie Mellon University). Interest in I_DDQ testing has advanced beyond the data reported in the 1980s and is now focused on applications and evaluations involving larger volumes of ICs that improve quality beyond what can be achieved by previous conventional means. In the conventional style of testing one attempts to propagate the logic states of the suspended nodes to primary outputs. This is done for all or most nodes of the circuit. For sequential circuits, in particular, the complexity of finding suitable tests is very high. In comparison, the I_DDQ test does not observe the logic states, but measures the integrated current that leaks through all gates. In other words, it is like measuring a patient's temperature to determine the state of health. Despite perceived advantages, during the years that followed its initial announcements, skepticism about the practicality of I_DDQ testing prevailed. The idea, however, provided a great opportunity to researchers. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported. After a decade of research, we are definitely closer to practice.