دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials
دانلود کتاب تصویربرداری با وضوح بالا و طیف سنجی مواد
مشخصات کتاب
High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials
ویرایش: 1 نویسندگان: F. Ernst, W. Sigle (auth.), Prof. Dr. Frank Ernst, Prof. Dr.Dr.h.c. Manfred Rühle (eds.) سری: Springer Series in Materials Science 50 ISBN (شابک) : 9783642075254, 9783662077665 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2003 تعداد صفحات: 453 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 15 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 40,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تصویربرداری با وضوح بالا و طیف سنجی مواد: سطوح و واسط ها، لایه های نازک، فیزیک حالت جامد، طیف سنجی و میکروسکوپ، مشخصه یابی و ارزیابی مواد، شیمی فیزیک
در صورت تبدیل فایل کتاب High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تصویربرداری با وضوح بالا و طیف سنجی مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تصویربرداری با وضوح بالا و طیف سنجی مواد
این کتاب به بررسی و معرفی سیستماتیک میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا می‌پردازد. روش به دقت مورد بحث قرار می‌گیرد، آخرین پیشرفت‌ها گزارش می‌شوند و کاربرد آن برای تحلیل سطح و رابط و مطالعه ساختارهای پنهان ارائه می‌شود. این کتاب از تحقیقات انجام شده در یکی از مراکز پیشرو میکروسکوپ الکترونی در جهان ناشی شده است. برای محققان و دانشجویان پیشرفته جذاب خواهد بود.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book gives a survey of and systematic introduction to high-resolution electron microscopy. The method is carefully discussed, the latest developments are reported, and the application to surface and interface analysis and to the study of hidden structures is presented. The book arises from research carried out at one of the world's leading centers of electron microscopy. It will appeal to researchers and advanced students.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages I-XIV
Microcharacterisation of Materials....Pages 1-8
Electron Scattering....Pages 9-68
Structure Determination by Quantitative High-Resolution Transmission Electron Microscopy....Pages 69-118
Quantitative Analytical Transmission Electron Microscopy....Pages 119-187
Advances in Electron Optics....Pages 189-270
Tomography by Atom Probe Field Ion Microscopy....Pages 271-320
Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Spectroscopy (STS), Atomic Force Microscopy (AFM)....Pages 321-362
Multi-Method High-Resolution Surface Analysis with Slow Electrons....Pages 363-390
From Microcharacterization to Macroscopic Property: A Pathway Discussed on Metal/Ceramic Composites....Pages 391-418
Microstructural Characterization of Materials: An Assessment....Pages 419-433
Back Matter....Pages 435-442
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Moon New York State
دانلود کتاب Metal Forming and Impact Mechanics. William Johnson Commemorative Volume
دانلود کتاب DASH DIET COOKBOOK: More Than 50 Quick, Easy and Healthy Recipes to Improve Health, Lose Weight and Lower Blood Pressure
