دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب High-Resolution Electron Microscopy
دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا
مشخصات کتاب
High-Resolution Electron Microscopy
ویرایش: [4 ed.]
نویسندگان: John C. H. Spence
سری:
ISBN (شابک) : 0199668639, 9780199668632
ناشر: Oxford University Press
سال نشر: 2013
تعداد صفحات: 432
[427]
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 5 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 46,000
در صورت تبدیل فایل کتاب High-Resolution Electron Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا
این نسخه چهارم جدید از متن استاندارد در مورد میکروسکوپ الکترونی عبوری با وضوح اتمی (TEM) مطالب قبلی را در مورد اصول اپتیک الکترونی و تصحیح انحراف، تئوری تصویربرداری خطی (شامل انحرافات موج تا مرتبه پنجم) با انسجام جزئی، و پراکندگی چندگانه حفظ می‌کند. تئوری. همچنین بخش‌های قبلی در مورد روش‌های عملی به‌روزرسانی شده است، با شرح‌های گام به گام دقیق از روش‌های مورد نیاز برای به دست آوردن تصاویر با بالاترین کیفیت از اتم‌ها و مولکول‌ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی TEM یا STEM مدرن. بخش‌های کاربردی به‌روزرسانی شده‌اند - این بخش‌ها شامل صنعت نیمه‌رسانا، تحقیقات ابررسانا، شیمی حالت جامد و علوم نانو، و متالورژی، کانی‌شناسی، فیزیک ماده متراکم، علم مواد و مواد در میکروسکوپ الکترونی کرایو برای زیست‌شناسی ساختاری است. بخش‌های جدید یا توسعه‌یافته در هولوگرافی الکترونی، تصحیح انحراف، تفنگ‌های انتشار میدان، فیلترهای تصویربرداری، روش‌های با وضوح فوق‌العاده، Ptychography، Ronchigrams، توموگرافی، کمی‌سازی و شبیه‌سازی تصویر، آسیب تشعشع، اندازه‌گیری پارامترهای الکترون-اپتیکی، و آشکارسازها (دوربین های سی سی دی، صفحات تصویر و آشکارسازهای حالت جامد تزریق مستقیم). تئوری میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی (STEM) و کنتراست Z به طور جامع مورد بررسی قرار می گیرد. فصل‌ها به تکنیک‌های مرتبط، مانند طیف‌سنجی اتلاف انرژی، کیمیاگری، پراش نانو، TEM محیطی، پرتوهای پیچشی برای تصویربرداری مغناطیسی و نورتابی کاتودولومینسانس اختصاص داده شده است. منابع نرم افزار برای تفسیر تصویر و طراحی الکترون نوری آورده شده است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This new fourth edition of the standard text on atomic-resolution transmission electron microscopy (TEM) retains previous material on the fundamentals of electron optics and aberration correction, linear imaging theory (including wave aberrations to fifth order) with partial coherence, and multiple-scattering theory. Also preserved are updated earlier sections on practical methods, with detailed step-by-step accounts of the procedures needed to obtain the highest quality images of atoms and molecules using a modern TEM or STEM electron microscope. Applications sections have been updated - these include the semiconductor industry, superconductor research, solid state chemistry and nanoscience, and metallurgy, mineralogy, condensed matter physics, materials science and material on cryo-electron microscopy for structural biology. New or expanded sections have been added on electron holography, aberration correction, field-emission guns, imaging filters, super-resolution methods, Ptychography, Ronchigrams, tomography, image quantification and simulation, radiation damage, the measurement of electron-optical parameters, and detectors (CCD cameras, Image plates and direct-injection solid state detectors). The theory of Scanning transmission electron microscopy (STEM) and Z-contrast are treated comprehensively. Chapters are devoted to associated techniques, such as energy-loss spectroscopy, Alchemi, nanodiffraction, environmental TEM, twisty beams for magnetic imaging, and cathodoluminescence. Sources of software for image interpretation and electron-optical design are given.
