ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

دانلود کتاب طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس سخت (HAXPES)

Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

مشخصات کتاب

Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Springer Series in Surface Sciences 59 
ISBN (شابک) : 9783319240411, 9783319240435 
ناشر: Springer International Publishing 
سال نشر: 2016 
تعداد صفحات: 576 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 24 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 54,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس سخت (HAXPES): ساختار و طیف اتمی/مولکولی، طیف‌سنجی/طیف‌سنجی، طیف‌سنجی و میکروسکوپی، سطوح و رابط‌ها، لایه‌های نازک، علوم سطح و رابط، لایه‌های نازک



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس سخت (HAXPES) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس سخت (HAXPES)



این کتاب اولین خلاصه کامل و به‌روز از وضعیت هنر HAXPES را ارائه می‌کند و به خوانندگان انگیزه می‌دهد تا از قابلیت‌های قدرتمند آن در تحقیقات خود استفاده کنند. فصل ها توسط متخصصان نوشته شده است. آنها شامل کارهای تاریخی، ابزار مدرن، تئوری و کاربردها هستند. این کتاب از فیزیک گرفته تا شیمی و علم و مهندسی مواد را شامل می شود. با توجه به توسعه سریع این تکنیک، چندین فصل شامل نکات برجسته است که فرصت های آینده را نیز نشان می دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book provides the first complete and up-to-date summary of the state of the art in HAXPES and motivates readers to harness its powerful capabilities in their own research. The chapters are written by experts. They include historical work, modern instrumentation, theory and applications. This book spans from physics to chemistry and materials science and engineering. In consideration of the rapid development of the technique, several chapters include highlights illustrating future opportunities as well.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xii
Hard X-ray Photoemission: An Overview and Future Perspective....Pages 1-34
The First Development of Photoelectron Spectroscopy and Its Relation to HAXPES....Pages 35-42
HAXPES at the Dawn of the Synchrotron Radiation Age....Pages 43-63
Hard-X-ray Photoelectron Spectroscopy of Atoms and Molecules....Pages 65-110
Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, Information Depths, and Effective Attenuation Lengths for Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy....Pages 111-140
Hard X-ray Angle-Resolved Photoelectron Spectroscopy (HARPES)....Pages 141-157
One Step Model Description of HARPES: Inclusion of Disorder and Temperature Effects....Pages 159-174
Recoil Effects in X-ray Photoelectron Spectroscopy....Pages 175-195
Depth-Dependence of Electron Screening, Charge Carriers and Correlation: Theory and Experiments....Pages 197-216
The Influence of Final-State Effects on XPS Spectra from First-Row Transition-Metals....Pages 217-262
Optimizing Polarization Dependent Hard X-ray Photoemission Experiments for Solids....Pages 263-275
Photoelectron Emission Excited by a Hard X-ray Standing Wave....Pages 277-307
Depth Profiling and Internal Structure Determination of Low Dimensional Materials Using X-ray Photoelectron Spectroscopy....Pages 309-339
Probing Perovskite Interfaces and Superlattices with X-ray Photoemission Spectroscopy....Pages 341-380
HAXPES Measurements of Heterojunction Band Alignment....Pages 381-405
HAXPES Studies of Advanced Semiconductors....Pages 407-446
Liquid/Solid Interfaces Studied by Ambient Pressure HAXPES....Pages 447-466
HAXPES Applications to Advanced Materials....Pages 467-531
Photoelectron Microscopy and HAXPES....Pages 533-554
Femtosecond Time-Resolved HAXPES....Pages 555-568
Back Matter....Pages 569-571




نظرات کاربران